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第21卷第3期
液晶中缺陷模式从2D到3D的转变

杨曲、英伟、张平文

Commun公司。计算。物理。,21(2017),第890-904页。

在线发布:2018-04

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  • 摘要

向列相液晶在拓扑约束下会产生缺陷在边界处。最近,缺陷的研究引起了很多关注,因为越来越具有理论和实践意义。在本文中,我们研究了二维缺陷与内部三维缺陷的关系限制在壳层中的向列相液晶。使用了高精度的光谱方法求解Landau-de-Gennes模型,得到缺陷的详细静态结构。有趣的是,当壳体的厚度足够小时,该解是径向不变的。随着壳厚度的增加,溶液发生对称性破坏重新配置向错线。我们研究这种三维重构在不同边界条件下,详细描述了向错线。特别是,我们发现温度在决定是否发生转变方面起着重要作用二维缺陷和三维缺陷之间是连续的还是不连续的对于内外表面均具有平面锚固条件的壳体。我们还讨论了二维和三维缺陷的表征张量模型中的空间。

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向列相液晶在拓扑约束下会产生缺陷在边界处。最近,缺陷的研究引起了很多关注,因为越来越具有理论和实践意义。在本文中,我们研究了二维缺陷与内部三维缺陷的关系限制在壳层中的向列相液晶。使用了高精度的光谱方法求解Landau-de-Gennes模型,得到缺陷的详细静态结构。有趣的是,当壳的厚度足够小时,解是径向不变的。随着壳厚度的增加,溶液发生对称性破坏重新配置向错线。我们研究这种三维重构在不同边界条件下,详细描述了向错线。特别是,我们发现温度在决定是否发生转变方面起着重要作用二维缺陷和三维缺陷之间是连续的还是不连续的对于内外表面均具有平面锚固条件的壳体。我们还讨论了二维和三维缺陷的表征张量模型中的空间。

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向列相液晶在拓扑约束下会产生缺陷在边界处。最近,缺陷的研究引起了很多关注,因为越来越具有理论和实践意义。在本文中,我们研究了二维缺陷与内部三维缺陷的关系限制在壳层中的向列相液晶。使用了高精度的光谱方法求解Landau-de-Gennes模型,得到缺陷的详细静态结构。有趣的是,当壳的厚度足够小时,解是径向不变的。随着壳厚度的增加,溶液发生对称性破坏重新配置向错线。我们研究这种三维重构在不同边界条件下,详细描述了向错线。特别是,我们发现温度在决定是否发生转变方面起着重要作用二维缺陷和三维缺陷之间是连续的还是不连续的对于内外表面均具有平面锚固条件的壳体。我们还讨论了二维和三维缺陷的表征张量模型中的空间。

Yang Qu、Ying Wei和Pingwen Zhang。(2020). 液晶中缺陷模式从2D到3D的转变。计算物理中的通信.21(3).890-904.doi:10.4208/cicp。OA-2016-0034号
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