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《水晶学报》。
(2014).
A类
70
,
39-48
https://doi.org/10.107/S2053273313026600
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金刚石核心电子变形的实验测定
N.宾祖斯
,
T.斯特拉索
,
N.Wahlberg公司
,
J.贝克尔
,
L.Bjerg先生
,
N.锁定
,
交流双刀
和
B.B.伊弗森
基于同步辐射粉末X射线衍射基准数据，探讨了金刚石电子密度的微妙之处。
实验观察到与共价键形成固有联系的核心密度收缩。
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《水晶学报》。
(2016).
A类
72
,
28-35
https://doi.org/10.107/S2053273315018318
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硅的同步辐射粉末衍射：高质量结构因子和电子密度
N.Wahlberg公司
,
宾祖斯猪笼草
,
L.Bjerg先生
,
J.贝克尔
,
交流双刀
和
B.B.伊弗森
通过同步加速器粉末X射线衍射获得了硅的高质量、高分辨率结构因子，其中估计的不确定度是根据抽样统计数据进行评估的，与常用的计数统计数据相反。
数据集的质量和分辨率使得可以对价态和内电子密度进行显式建模。
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《水晶学报》。
(2017).
A类
73
,
C572元
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从粉末X射线衍射看硅中的核心电子变形
K.托尔堡
,
M.R.V.约根森
,
H.卡赛
,
J.贝克尔
,
交流双刀
,
J.阿尔斯·尼尔森
和
B.B.伊弗森
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菲利普·科彭斯致敬
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《水晶学报》。
(2017).
B类
73
,
521-530
https://doi.org/10.107/S2052520617006357
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粉末X射线衍射的精确电荷密度——奥胡斯真空成像板衍射仪的新版本
K.托尔伯格
,
M.R.V.约根森
,
S.克里斯滕森
,
H.卡赛
,
J.贝克尔
,
P.沃尔特
,
交流双刀
,
J.阿尔斯·尼尔森
和
B.B.伊弗森
简要回顾了粉末衍射数据X射线电子密度测定的现状，以及新型大直径真空衍射仪的首次结果。
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《水晶学报》。
(2021).
A类
77
,
85-95
https://doi.org/10.107/S2053273320016605
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正常开放
接近
用MYTHEN探测器系统（OHGI）获得的同步辐射粉末X射线衍射数据中的多极电子密度和结构参数
B.斯凡尼
,
K.托尔伯格
,
加藤（K.Kato）
和
B.B.伊弗森
根据MYTHEN探测器系统（OHGI）获得的同步辐射粉末X射线衍射数据，评估了无机和有机材料的多极电子密度和结构参数。
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《水晶学报》。
(2023).
A类
79
,
41-50
https://doi.org/10.1107/S053273322010154
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高温下金刚石的电子密度和热运动
J.拜尔
,
T.B.E.Grönbech公司
,
J.张
,
加藤（K.Kato）
和
B.布鲁默斯特·伊弗森
金刚石的电子密度和原子位移参数由100
K至1000
K使用同步辐射粉末X射线衍射。
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《水晶学报》。
(2024).
A类
80
,
249-257
https://doi.org/10.107/S2053273324001645
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N个
-用冻结核电子重构具有代表性的单电子约化密度矩阵
S.Yu（S.余）
和
J.-M.吉列
在尿素晶体上测试了一种改进的由结构因子和方向康普顿轮廓重建单电子约化密度矩阵的方法。
介绍了解释分子对称性和核心电子冻结的新限制。
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
,
673-680
https://doi.org/10.107/S1600576717004149
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正常开放
接近
相干X射线衍射成像揭示六角形核壳（in，Ga）As/GaAs纳米线的三重旋转对称性
A.达夫蒂安
,
T.克劳斯
,
D.克里格纳
,
A.阿尔·哈桑
,
D.巴赫拉米
,
S.M.穆斯塔法维·卡沙尼
,
R·B·刘易斯
,
H.Küpers公司
,
A.塔拉维
,
L.Geelhaar先生
,
M.汉克
,
S.J.Leake公司
,
O.洛菲尔德
和
U.Pietsch公司
相干X射线衍射成像用于检测六边形单半导体纳米线的三重旋转对称性。
核-壳-壳结构通过探测对称
小时
布拉格反射。
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《水晶学报》。
(2019).
A类
75
,
600-609
https://doi.org/10.107/S205327331900799X
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基于精确粉末X射线衍射的尿素中多极电子密度和原子位移参数
B.斯凡尼
,
K.托尔伯格
,
罗根森
,
M.罗尔斯加德
,
M.R.V.约根森
和
B.布鲁默斯特·伊弗森
根据粉末X射线衍射数据测定了结晶尿素的电子密度。
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J.应用。
克里斯特。
(2020).
53
,
1310-1320
https://doi.org/10.107/S1600576720011516
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接近
X射线衍射揭示了极度弯曲的单根纳米线的应变量和均匀性
A.达夫蒂安
,
D.克里格纳
,
V.霍尔
,
A.阿尔哈桑
,
R·B·刘易斯
,
S.McDermott公司
,
L.吉哈尔
,
D.巴赫拉米
,
T.安朱
,
Z.Ren先生
,
C.里希特
,
D.诺维科夫
,
J.米勒
,
B.布茨
和
U.Pietsch公司
使用具有纳米聚焦光束的X射线衍射和用于强弯曲晶体的专用衍射理论来确定单个纳米线的弯曲半径和应变。
电子显微镜研究证实了这一结果。
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