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克劳斯，T。
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J.应用。
克里斯特。
(2017).
50
，
673-680
https://doi.org/10.107/S1600576717004149
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正常开放
接近
相干X射线衍射成像揭示六角形核壳（in，Ga）As/GaAs纳米线的三重旋转对称性
A.达夫蒂安
，
T.克劳斯
，
D.克里格纳
，
A.阿勒·哈桑
，
D.巴赫拉米
，
S.M.穆斯塔法维·卡沙尼
，
R·B·刘易斯
，
H.Küpers公司
，
A.塔拉维
，
L.Geelhaar先生
，
M.汉克
，
S.J.Leake公司
，
O.洛菲尔德
和
U.Pietsch公司
相干X射线衍射成像用于检测六边形单个半导体纳米线中的三重旋转对称性。
核-壳-壳结构通过探测对称
小时
布拉格反射。
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