封面插图：在Petra III光束线P65处进行稳态X射线激发光学发光（XEOL）和同步X射线激发和X射线吸收精细结构（XAFS）表征的新装置示意图（参见Levcenko、Biller、Pfeifelmann、Ritter、Falk、Wang、Siebentritt、Welter和Schnohr，第1209–1215页). 最先进的光学检测系统涵盖300–1700 nm的宽光谱范围，He-flow低温恒温器可将样品温度控制在5–300 K范围内。
最近发表的光束线文章如下。
