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利用高度平行X射线微束估算应变Si晶片的晶格结构（I）

用于观察透明生物标本的高分辨率硬X射线相控显微镜

SPring-8 SR X射线微衍射系统的现状与应用

大直径高数值孔径波带片高分辨率硬X射线相控显微镜

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用高度平行X射线微束衍射法估算薄硅-绝缘体层的结晶度

利用高度平行X射线微束估算应变Si晶片的晶格结构（II）

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