穆勒，J.L。;西尔坦，萨穆利 电阻抗断层成像的D-bar方法——揭开了神秘面纱。 （英语） Zbl 1453.78007号 反向探测。 36，第9号，文章ID 093001，28 p.（2020）. 本文综述了电阻抗成像反问题的几种计算反演方法。也就是说，他们描述了所谓的D-bar方法（在2D和3D中），基于涉及复杂几何光学解、D-bar方程和非线性傅立叶变换的非迭代方法。审核人：路易斯·菲利佩·皮涅罗·德·卡斯特罗（阿威罗） 引用于7文件 MSC公司： 78A46型 光学和电磁理论中的逆问题（包括逆散射） 78A45型 衍射、散射 78A05型 几何光学 78M20型 有限差分法在光学和电磁理论问题中的应用 65N21型 含偏微分方程边值问题反问题的数值方法 65N20型 含偏微分方程边值问题不适定问题的数值方法 65号06 含偏微分方程边值问题的有限差分方法 65N80型 涉及偏微分方程边值问题的基本解、格林函数方法等 65J20型 抽象空间中不适定问题的数值解；正则化 65T50型 离散和快速傅里叶变换的数值方法 92 C55 生物医学成像和信号处理 35卢比 积分-部分微分方程 35兰特 PDE的反问题 60年第35季度 与光学和电磁理论相关的PDE 关键词：D-bar方法;电阻抗断层成像;复杂几何光学;直接重建算法 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{J.L.Mueller}和\textit{S.Siltanen}，反问题。36，第9号，文章ID 093001，28 p.（2020；Zbl 1453.78007） 全文： 内政部 链接 参考文献： [1] Ablowitz M J，Yaacov D B和Fokas A S 1983关于Kadomtsev-Petviashvili方程的逆散射变换Stud.Appl。数学69 135-43·兹伯利0527.35080 ·doi:10.1002/sapm1983692135 [2] Alessandrini G 1988通过边界测量稳定测定电导率。分析27 153-72·Zbl 0616.35082号 ·doi:10.1080/00036818808839730 [3] Alsaker M和Mueller J L 2018 EIT储罐数据D-bar重建中优化空间先验的使用反问题成像12 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