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利用X射线反射仪、漫反射X射线散射和原子力显微镜研究了Cr/Be多层镜界面的结构。这些方法的结合使得分离每个样品的粗糙度和层间扩散/混合的贡献成为可能。在2.26–0.8的周期厚度范围内nm,发现Cr/Be多层镜的生长粗糙度不依赖于周期厚度,为~0.2纳米。粗糙度和扩散度的分离允许估计层材料混合以及由此产生的光学对比度下降,与理想的锐利结构相比,光学对比度从0.85到0.17。

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