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考虑将测量的X射线强度转换为绝对单位所需的数量,以便与理论预测进行比较。重点关注仪器分辨率校正以及入射光束扩展和波长范围、晶体镶嵌扩展、探测器尺寸和效率等因素,这些因素有助于在给定测量中采样的波矢量的扩展。本文提出了一个方案,用于有把握地处理这些因素中的每一个,通常不需要对其简单的分析形式进行任何假设。本文描述了一组辅助测量,它能够为所需的卷积收集实际数量的数据。该方案还提供了一种以已知方式对准设备的简单方法。在我们的装置中,给出了一些数值例子,说明了各种因素对KCl散射的影响。
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