Single-crystal data collection with a Laue diffractometer

结晶学报A辑
结晶学报
A部分基础和进展

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用劳厄衍射仪采集单晶数据

劳厄技术适用于研究依赖于波长的效应，如吸收、反常色散或二次消光。用于X射线结构测定的测量积分强度的精确度与传统收集数据的测量值相当。本文描述并讨论了用劳厄衍射仪进行单晶数据采集的结果。劳厄数据得出的结果与传统收集数据的结果非常一致。

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