在表面X射线衍射实验中，测量强度的传统方法是进行摇摆扫描。由于实验时间的限制，这个相当慢的过程导致大型表面单元的数据集不完整。这种信息的缺乏不仅会对精细原子位置的准确性产生不利影响，而且会阻碍三维直接结构求解方法的应用。这里是Specht&Walker提出的替代数据收集策略的可行性[J.应用。克里斯特。(1993),26使用SrTiO上生长的50º厚NBCO薄膜作为测试材料，对，166-171]进行了研究三（001）基底。此程序基于静止L（左）扫描，即。样品在L（左）扫描，将测量时间缩短一个数量级。在本研究中，特别注意了预测的理论洛伦兹因子的验证，这是针对本实验装置的。
