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编码孔径设计,用于解决X射线晶体学中的相位恢复问题。 (英语) 兹比尔1388.78002

摘要:X射线晶体学是一种用于材料分析的实验技术,可以测量晶体中元素的原子位置。这项技术基于X射线衍射图,该图提供了感兴趣晶体的电子和弹性特性。因此,可以通过衍射图案的相位来唯一地识别晶体,衍射图案也用于分析感兴趣的材料。无法直接测量X射线的相位;然而,它可以从衍射图样的强度中恢复。最近的工作[E.J.坎迪斯等人,应用。计算。哈蒙。分析。39,第2期,277–299页(2015年;Zbl 1329.78056号)]已经表明,当采集体系结构包括被称为编码孔径的光学元件时,可以更有效地恢复相位信号,从而从编码衍射图案恢复基础信号。编码孔径是一种通过阻挡一些X射线束来调制X射线衍射图案的元件。编码投影的结构和数量至关重要,因为它们决定了X射线信号的质量和采集时间。本文对编码X射线晶体学系统进行了分析,并设计了编码孔径的空间结构,以便使用最少的编码投影数以高PSNR(峰值信噪比)恢复图像。仿真结果表明,当使用随机非设计编码孔径结构与重建图像进行比较时,设计的编码孔径可使编码投影数减少50%,PSNR增加2 dB。所有模拟都是在一组衍射图案图像上进行的,这些图像是使用SAXS/WAXS X射线结晶学软件获得的,以模拟真实晶体结构(称为菱形十二面体)的衍射图案。

理学硕士:

78-05 光学和电磁理论相关问题的实验工作
78A40型 光学和电磁理论中的波和辐射
78A45型 衍射、散射
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全文: 内政部

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