Knoth，斯文 控制绘制正常方差-反射、好奇和建议。 （英语） Zbl 1383.62347号 Lenz，Hans-Joachim（编辑）等人，《统计控制的前沿》9。论文选自2007年9月在中国北京举行的第九届“智能统计质量控制”国际研讨会上的发言。海德堡：Physica-Verlag（ISBN 978-3-7908-2379-0/pbk；978-3-79 08-2380-6/电子书）。3-18 (2010). 总结：遵循G.E.P.箱等人【实验者统计。设计、数据分析和模型构建导论。纽约：John Wiley&Sons（1978；Zbl 0394.62003号)]在有关方差监测的SPC文献中，对样本方差的对数（S^2）的考虑相当普遍。样本标准差（S\）和范围（R\）是日常SPC实践中最常见的统计数据。半导体行业使用的SPC软件包专门提供（R）和（S）控制图。使用卡斯塔利奥拉[“一个新的\（S^2 \）-EWMA控制图用于监控过程差异”，Qual.Reliab.Eng.Int.21，No.8，781-794（2005；doi:10.1002/qre.686)]2005年开始了一项新的基于日志的转换。同样，对对称性和准正态性的搜索也是寻找新图表统计数据的原因。图表统计数据的对称性有助于建立双边控制图表。在这里，我们进行了一项比较研究，特别着眼于双边设置，理顺了用于方差监测的可用竞争统计数据集的观点，并最终提出了选择正确统计数据的建议。关于整个系列，请参见[Zbl 1187.62207号]. 引用于5文件 MSC公司： 第60页 统计学在工程和工业中的应用；控制图 62K20型 响应面设计 62焦耳10 方差和协方差分析（ANOVA） 关键词：控制图正态方差；统计过程控制 引文：Zbl 0394.62003号；Zbl 1082.62063号 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{S.Knoth}，in：统计控制中的边界9。论文选自2007年9月在中国北京举行的第九届“智能统计质量控制”国际研讨会上的发言。海德堡：Physica Verlag。3-18（2010年；Zbl 1383.62347） 全文： 内政部