佩恩,W.L。;吴建伟 具有多个独立特征的过程的生产质量和产量保证。 (英语) Zbl 1125.90345号 欧洲药典。物件。 173,第2期,637-647(2006). 摘要:过程能力指数已广泛应用于制造业,为过程潜力和过程性能提供了数字度量。对于具有单一特征的过程的能力度量已经进行了广泛的研究,但对于具有多个特征的过程,相对而言,它被忽略了。在实际应用中,流程通常具有多个特征,每个特征具有不同的规范。S.C.Singhal公司[用于分析多进程性能的新图表。Qual.Eng.2,No.4,397–390(1990)]提出了一种用于分析多过程产品性能的多进程性能分析图表(MPPAC)。使用相同的技术,开发了多个MPPAC,用于监控具有多个独立特征的过程。不幸的是,这些MPPAC忽略了采样错误,因此导致的性能度量和分组不可靠。本文提出了一种可靠的方法,将估计的指数值转换为置信下限,然后在MPPAC上绘制相应的置信下限。较低的置信区间不仅为我们提供了与不合格单元分数密切相关的最小实际性能线索,而且对能力测试的决策也很有用。本文以双纤维针尖工艺为例,说明了该方法如何应用于现场应用。 引用于三文件 MSC公司: 90B30型 生产模型 90秒25 运筹学中的可靠性、可用性、维护和检查 关键词:重复取样;置信下限;MPPAC控制图;过程能力指数 PDF格式BibTeX公司 XML格式引用 \textit{W.L.Pearn}和\textit{C.-W.Wu},欧洲期刊Oper。第173号决议,第2号,637--647(2006年;Zbl 1125.90345) 全文: 内政部 参考文献: [1] Bissell,A.F.,你的能力指数有多可靠?,应用统计学,39,3,331-340(1990)·Zbl 0707.62205号 [2] Bothe,D.R.,1992年。整个产品的能力研究。ASQC质量大会汇刊,第172-178页。;Bothe,D.R.,1992年。整个产品的能力研究。ASQC质量大会汇刊,第172-178页。 [3] Boyles,R.A.,田口能力指数,质量技术杂志,23,17-26(1991) [4] Boyles,R.A.,《非对称公差的过程能力》,《统计学中的通信:计算和模拟》,23,3,615-643(1994)·Zbl 0825.62059号 [5] Boyles,R.A.,格子数据的多元过程分析,技术计量学,38,1,37-49(1996)·Zbl 0873.62113号 [6] Chan,L.K。;Cheng,S.W。;Spiring,F.A.,《过程能力的新测量:(C_{pm})》,《质量技术杂志》,20,3,162-175(1988) [7] Chen,H.,矩形固体公差带上的多元过程能力指数,中国统计局,4749-758(1994)·Zbl 0824.60045号 [8] Chen,K.S。;黄,M.L。;Li,R.K.,整个产品的过程能力分析,《国际生产研究杂志》,39,17,4077-4087(2001)·Zbl 1037.90514号 [9] Chen,K.S。;Pearn,W.L。;Lin,P.C.,《具有多个特征的过程的能力度量》,国际质量与可靠性工程,第19期,第101-110页(2003年) [10] 周永明。;Owen,D.B.,《关于估计过程能力指数的分布》,统计学中的传播:理论与方法,18,24549-4560(1989)·Zbl 0707.62030号 [11] 周永明。;欧文,D.B。;Borrego,A.S.,《过程能力指数的置信下限》,《质量技术杂志》,22223-229(1990) [12] Deleryd,M。;Vännman,K.,《过程能力图——一种质量改进工具》,国际质量与可靠性工程,15,213-227(1999) [13] Efron,B.,Bootstrap methods:Another look at the Jackknife,the Annals of Statistics,7,1-26(1979年)·Zbl 0406.62024号 [14] Efron,B.,The Jackknife,The Bootstrap and Other Resampling Plans(1982),工业和应用数学学会:工业和应用数学家学会,宾夕法尼亚州费城·Zbl 0496.62036号 [15] 埃夫隆,B。;Tibshirani,R.J.,统计准确性的标准误差、置信区间和其他度量的Bootstrap方法,统计科学,1,54-77(1986)·Zbl 0587.62082号 [16] Gabel,S.H.,1990年。过程性能图。ASQC质量大会汇刊,加利福尼亚州旧金山,第683-688页。;Gabel,S.H.,1990年。过程性能图。ASQC质量大会汇刊,加利福尼亚州旧金山,第683-688页。 [17] Kane,V.E.,《过程能力指数》,《质量技术杂志》,18,1,41-52(1986) [18] 科茨,S。;Johnson,N.L.,《过程能力指数——综述》,1992-2000,《质量技术杂志》,34,1,1-19(2002) [19] 科茨,S。;Lovelace,C.,《理论与实践中的过程能力指数》(1998),阿诺德:阿诺德伦敦,英国 [20] Kushler,R。;Hurley,P.,能力指数的置信界限,《质量技术杂志》,24188-195(1992) [21] F.C.塞拉利昂。;Nelson,L.S。;诺丁汉,R.B.,《折叠正态分布》,《技术计量学》,第3543-550页(1961年) [22] Montgomery,D.C.,《统计质量控制导论》(2001),John Wiley&Sons公司:John Willey&Sons,Inc.纽约 [23] 永田,Y。;Nagahata,H.,《过程能力指数置信下限的近似公式》,《冈山经济评论》,25301-314(1994) [24] Pearn,W.L。;Chen,K.S.,《多过程性能分析:案例研究》,质量工程,10,1,1-8(1997) [25] Pearn,W.L。;Lin,P.C.,基于临界值的能力指数(C_{pk})的测试过程性能,计算机与工业工程,47,351-369(2004) [26] Pearn,W.L。;科茨,S。;Johnson,N.L.,《过程能力指数的分布和推断特性》,《质量技术杂志》,24216-231(1992) [27] 皮尔恩,W.L。;Lin,G.H。;Chen,K.S.,《过程精度和过程精度指数的分布和推断特性》,《统计学中的通信:理论和方法》,27,4,985-1000(1998)·兹比尔0900.62550 [28] Pearn,W.L。;Ko,C.H。;Wang,K.H.,基于失效指数(C_{pp})的多进程性能分析图:芯片电阻器的应用,微电子可靠性,421121-1125(2002) [29] 波特,L.J。;Oakland,S.,《过程能力指数——理论与实践概述》,国际质量与可靠性工程,7437-448(1991) [30] Rodriguez,R.N.,《过程能力分析的最新发展》,《质量技术杂志》,24176-187(1992) [31] Singhal,S.C.,《分析多进程性能的新图表》,质量工程,2,4,379-390(1990) [32] Singhal,S.C.,带能力区域的多过程性能分析图(MPPAC),质量工程,4,1,75-81(1991) [33] Tang,L.C。;Than,S.E。;Ang,B.W.,获得(C_{pk})置信限的图解法,国际质量与可靠性工程,13,337-346(1997) [34] Wang,F.K。;Chen,J.,使用主成分分析的能力指数,质量工程,11,21-27(1998-1999) [35] Wang,F.K。;Du,T.C.T.,《在多元数据的过程绩效中使用主成分分析》,《欧米茄——国际管理科学杂志》,28185-194(2000) [36] Wang,F.K。;N.F.Hubele。;劳伦斯,P。;Miskulin,J.D。;Shahriari,H.,《三个多元过程能力指数的比较》,《质量技术杂志》,32,3,263-275(2000) [37] 张,N.F。;Stenback,G.A。;Wardrop,D.M.,过程能力指数的区间估计(C_{pk}),《统计学中的沟通:理论和方法》,194455-4470(1990) 此参考列表基于出版商或数字数学图书馆提供的信息。其项与zbMATH标识符进行启发式匹配,可能包含数据转换错误。在某些情况下,zbMATH Open的数据对这些数据进行了补充/增强。这试图尽可能准确地反映原始论文中列出的参考文献,而不要求完整或完全匹配。