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受统计启发的多移位Arnoldi投影用于片上互连。 (英语) Zbl 07431524号

摘要:电子器件和片上互连的模型降阶在决定超大规模集成电路设计的性能方面起着重要作用。不断缩小的处理技术继续增加这些系统的复杂性,当前Intel设备技术节点位于10 nm。在高速IC互连的分析中,通常需要简化模型来近似所需频率范围内的原始系统。本文提出了一种高效的统计启发多移位Arnoldi(SIMA)方法,该方法动态选择正态分布的移位来确定投影矩阵。SIMA是通过开发一种迭代算法来实现的,该算法使用统计生成的插值点将大规模系统近似为特征值问题。选择这些高斯核加权点的动机是因为存在许多遵循正态分布的自然现象。仿真结果表明,与现有的其他模型降阶技术相比,该方法具有更好的精度。

理学硕士:

93至XX 系统论;控制
68倍 计算机科学
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全文: 内政部

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