（IUCr）应用晶体学杂志第31卷第1部分，1998年2月

J.应用。克里斯特。(1998).31,1-6
doi:10.1107/S002188989800226X

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Al-2.70%Li合金δ'相与基体界面特性的小角X射线散射研究

Z.G.Chai先生和C.F.孟

利用小角X射线散射（SAXS）研究了铝–2.70质量分数锂合金在463K时效8和30h后的δ'析出。结果表明，δ'相与基体之间存在弥散界面层。

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Ab Initio公司高温K的结构求解和Rietveld精化₂镁钨合金₂（采购订单₄)₂阶段(T型=773 K）来自X射线粉末衍射数据

U.标致,L.博哈特和J.施耐德

K（K）₂镁钨合金₂（采购订单₄)₂（KMgWP）在室温以上至少经历五次可逆固态相变/异常。安从头算对四方高温KMgWP相进行了结构测定T型根据Rietveld对X射线粉末衍射数据的细化，=773 K。简要比较了KMgWP的三斜室温度修正。

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峰不对称的有效校正：锂的高分辨率同步辐射粉末数据的Rietveld精化_1.8（马力_1.2铁_0.8)（采购订单₄)_三

M.A.G.阿兰达,E.R.Losilla公司,A.卡贝扎和S.布鲁克

介绍了几种非对称同步加速器、实验室X射线和中子粉末剖面拟合。利用高分辨率同步加速器数据λ≃0.4º进行的出色Rietveld精化表明，由于轴向发散引起的不对称性可以得到有效纠正。

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用于评估弱和/或重叠二维Laue或单色图案的具有优化拟合区域的基于轮廓拟合的积分例程

D.资产阶级,D.努里佐,R.卡恩和C.坎比劳

一个新程序，PROW公司引入了，它允许通过剖面拟合对弱和/或空间重叠的二维劳厄或单色X射线衍射图像进行精确积分。通过优化每个单独光斑的拟合区域，提高了积分强度的准确性。

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噪声X射线地形图恢复的多分辨率分析

M.皮拉德和Y.Epelboin公司

综述了基于小波理论的多分辨率分析原理。该技术被证明非常适合于恢复有噪声的X射线图像，并且适用于包括电子显微镜在内的所有图像记录技术。

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吸收圆柱形试样中透射因子和峰值漂移的解析表达式

T.M.萨宾,B.A.亨特,W.R.Sabine公司和C.J.球

圆柱形粉末或单晶样品的吸收校正，吸收范围为0<μR（右）显示<。

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中子衍射残余应力测量中采样体积部分埋藏引起的峰移异常理论

X.-L.王,S.勺子和C.R.哈伯德

发展了中子光学理论来描述中子衍射残余应力测量中由于取样体部分埋藏而引起的峰值漂移异常的散射物理。

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强声场中的X射线布拉格衍射

E.佐洛托亚布科和一、波利卡波夫

针对同步加速器的应用，从实验和理论上研究了声表面波对X射线衍射的影响。

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第二级铯石墨的低温三维结构

L.Duclaux公司,一、兰诺,M.Lelaurain先生和F.贝根

CsC的旋转晶体单色分析₂₄例如，在300–110 K范围内的HOPG（高度取向的热解石墨）揭示了Cs原子服从石墨周期势的结构转变。确定了石墨主体的三维堆积以及Cs的相称和非相称调制结构。

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从粉末数据中求解晶体结构。四、使用Patterson信息估算|F类|的

A.Altomare公司,J.Foadi公司,C.贾科瓦佐,A.G.G.莫里特尼,M.C.伯拉和G.波利多里

Patterson图的预期正性与Le Bail方法相结合，以改进粉末衍射图案的分解。

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用Rietveld方法分析半晶体材料中的量子相

P.里埃罗,P.广州和G.法格拉齐

提出了一种利用Rietveld细化对半晶材料进行定量分析的简单方法。该方法需要了解化学成分，但它没有任何内部标准。

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MC尽职调查，使用蒙特卡罗弦采样从模型粒子生成距离分布函数的计算机程序

G.K.多尔蒂和G.A.波兰

描述了一个带有商业三维（3D）建模软件接口的计算机程序。该程序使用蒙特卡罗距离分布弦采样从3D分子模型生成距离分布函数，避免了定义感兴趣的最小结构的大小的问题。

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第2阶段嵌入化合物Ag中Ag原子的平面内局部排列_0.15TiS公司₂

Y.Kuroiwa先生,T.田村和K.-I.大岛

二级插层化合物Ag中Ag原子的平面内局域排列_0.15TiS公司₂通过蒙特卡罗模拟技术，使用二维短程有序参数进行可视化。3个微区^1/2× 3^1/2 R（右）随着温度的降低，30°面内有序排列的数量越来越多，而其他可能的有序排列的数目并不取决于温度。

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极化X射线吸收。角闪石矿物定向分散的证据

T.李普曼,K.Fischer公司和A.基尔费尔

在两种角闪石矿物中检测到X射线区吸收张量定向弥散的实验证据。

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BLANC公司：蛋白质晶体学程序集

A.A.瓦金,G.N.穆尔舒多夫和B.V.斯特罗科皮托夫

BLANC公司是蛋白质晶体学软件，可用于使用各种方法（MIR、MIRAS、SIR、MR）的大分子结构溶液等。).

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X射线粉末衍射附件就地电极材料中离子插入过程的研究

O.Bergström,T.古斯塔夫森和J.O.托马斯

介绍了X射线粉末衍射仪附件的设计。给出了它与锂聚合物电池的一些使用示例。

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LiNbO中倒铁电畴的可视化_三通过X射线地形图

P.Rejmánková,J.巴鲁切尔,P.莫雷蒂,M.阿博雷,M.Fejer先生和G.福隆

周期性极化LiNbO中反向铁电畴的无损可视化方法_三报道了X射线地形图。结果表明，当向样品施加电场时，即使在白束模式下，也可以观察到显示畴内部结构的强烈对比。

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等同：单晶数据采集等效反射分析程序

M.普伦西佩

该程序提供了有关数据收集质量的信息，并为高对称系统提供了更真实的结构因子标准偏差。

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XRDA公司3.1-PC上的X射线衍射分析程序

S.除灰器和K.拉加雷克

XRDA公司3.1提供了在Windows图形环境下进行X射线衍射图案分析所需的工具。

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电池,香港贷款利率和协调员：细胞数据、米勒指数和原子坐标的转换及其估计标准偏差

I.-H.Suh先生,M.-R.Oh先生和K.-H.金

提出了三种单位细胞数据、米勒指数和原子坐标转换程序

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亵渎：用于计算具有轴向发散不对称性的粉末图案峰值轮廓的函数

L.W.手指

给出了计算轴向发散不对称性的函数（在Fortran、Pascal和C中）。

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应用超导电性1997年，（物理研究所会议系列，第158号，第1卷和第2卷），由H.Rogalla和D.H.A.Blank编辑

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发行内容

一九九八年二月号

国际结晶学联合会

作者须知

研究论文

Al-2.70%Li合金δ'相与基体界面特性的小角X射线散射研究

Ab Initio公司高温K的结构求解和Rietveld精化₂镁钨合金₂（采购订单₄)₂阶段(T型=773 K）来自X射线粉末衍射数据

峰不对称的有效校正：锂的高分辨率同步辐射粉末数据的Rietveld精化_1.8（马力_1.2铁_0.8)（采购订单₄)_三

用于评估弱和/或重叠二维Laue或单色图案的具有优化拟合区域的基于轮廓拟合的积分例程

噪声X射线地形图恢复的多分辨率分析

吸收圆柱形试样中透射因子和峰值漂移的解析表达式

中子衍射残余应力测量中采样体积部分埋藏引起的峰移异常理论

强声场中的X射线布拉格衍射

第二级铯石墨的低温三维结构

从粉末数据中求解晶体结构。四、使用Patterson信息估算|F类|的

用Rietveld方法分析半晶体材料中的量子相

MC尽职调查，使用蒙特卡罗弦采样从模型粒子生成距离分布函数的计算机程序

短通信

第2阶段嵌入化合物Ag中Ag原子的平面内局部排列_0.15TiS公司₂

极化X射线吸收。角闪石矿物定向分散的证据

计算机程序

BLANC公司：蛋白质晶体学程序集

实验室札记

X射线粉末衍射附件就地电极材料中离子插入过程的研究

快速通信

LiNbO中倒铁电畴的可视化_三通过X射线地形图

计算机程序摘要

等同：单晶数据采集等效反射分析程序

XRDA公司3.1-PC上的X射线衍射分析程序

电池,香港贷款利率和协调员：细胞数据、米勒指数和原子坐标的转换及其估计标准偏差

亵渎：用于计算具有轴向发散不对称性的粉末图案峰值轮廓的函数

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应用超导电性1997年，（物理研究所会议系列，第158号，第1卷和第2卷），由H.Rogalla和D.H.A.Blank编辑

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