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结晶学

第27卷| 第3部分

国际标准编号：1600-5767

1994年6月发行

突出显示的插图

封面插图：金刚石显示截面同步辐射地形图的模拟彭德尔松边缘。由G.Kowalski，A.R.Lang，A.P.W.提供。Makepeace和M.Moore。

主要文章

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漫射X射线散射的解释通过无序模型

T.R.Welberry公司和B.D.巴特勒

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研究论文

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X射线范围内磁圆二色性实验的能量色散相位板

C.贾尔斯,C.马尔格兰奇,J.古龙,F.de Bergevin先生,C.维蒂尔,E.达蒂奇,A.芳婷,C.乔尔盖蒂和S.皮齐尼

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小角度散射数据处理中的传播误差

D.I.斯维尔贡和J.S.佩德森

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涂层硅和小角度X射线强度行为

A.贝内德蒂和西卡列洛

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用最大熵法评价高分辨率X射线散射数据的研究

J.J.米勒和S.汉森

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浮石的中子衍射结构

弗洛里亚诺硕士,A.M.威尼斯,G.德加内洛,E.C.斯文森和J.H.根

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反射法薄膜X射线织构分析：离焦校正的中间区

D.查泰格,P.杰米和M.佩内

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邻苯二甲酸氢铊（TAP）有机晶体的缺陷与生长研究

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级数关联概念在粉末衍射轮廓拟合优值函数中的应用

余。G.安德列夫

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中子小角散射仪器的几何优化

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使用普通发生器和线性二极管阵列探测器实时粉末衍射的几何方面

K·范·马尔森,R.佩沙尔和H.申克

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中子通过圆柱形导管的传输

D.F.R.米尔德纳和H.陈

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用小角中子散射研究FeNiCr中的氦气泡：使用尺寸相关对比因子的Guinier分析

F.Carsughi公司

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小角度中子散射的最佳强度。对称和非对称几何的实验比较

A.N.法尔考,J.S.佩德森和K.莫滕森

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基于X射线摇摆曲线数据的亚微米分辨率硅晶体二维晶格畸变映射

A.余。尼库林,坂田O.Sakata,H.哈希祖姆和P.V.Petrashen（彼得拉森）

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Warren–Averbach分析和分离尺寸和应变加宽的替代分析的适用性

J.G.M.van Berkum先生,A.C.Vermeulen公司,R.德赫兹,T.H.de Keijser先生和E.J.Mittemeijer公司

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纤维型纹理成分体积分数的评估

L.Zuo（左）,J.穆勒和C.埃斯林

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Pb中的相变₅（铬_1−x个铝_x个)F类₁₉系统

J.拉维兹,V.安德里亚曼皮亚纳,A.西蒙,拉巴德尔,J.伊林格和S.C.亚伯拉罕斯

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四反射单色仪五晶体X射线衍射仪的仪器功能

M.O.Möller先生

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定向析出相合金的电子衍射图样模拟

T.阿克贝,K.艾迪诺和答：。博尔

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粉末衍射数据的近常数统计收集与分析

I.C.马德森和R.J.希尔

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扩散中子散射就地生长的α-AgI单晶

D.A.Keen博士,V.M.尼尔德和R.L.McGreevy公司

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从头算锆（OH）的结构测定₂SO公司₄.3小时₂O使用常规单色X射线粉末衍射

D.加斯科因,S.E.柏油,P.巴恩斯,C.F.皮格尔,佩·贝纳德和D.卢埃尔

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1673K下变形的稳定氧化锆单晶变形亚结构的X射线Berg–Barrett形貌

F.吉贝托,F.L.坎布雷拉,A.多明格斯-罗德里格斯,E.炸薯条和J.卡斯廷

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从头算用自动Patterson和直接法求解失配层结构

P.T.贝斯肯斯,G.贝尔肯斯,E.J.W.Lam先生,S.van Smaalen先生和H.风扇

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短通信

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钽和银中热原子位移的中子衍射研究

J.巴希尔,纳西尔·汗,Q.H.汗,N.M.巴特,Z.百胜,Y.Jilian先生,J.兰和Y.Chuntang先生

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老化金属玻璃散射SAXS强度的背景校正

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计算机程序

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ASIR公司蛋白质晶体学中溶剂结构的自动测定

H.Tong公司,J.伯吉斯,J.Chen（陈）,Y.Luo（罗）,J.M.格斯,H.C.弗里曼和G.D.Brayer公司

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P-RISCON公司：粉末衍射数据晶体结构测定的真实空间清除剂

N.Masciocchi（马西奥奇）,R.比安奇,P.Cairati公司,G.夹层,T.皮拉蒂和A.西罗尼

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电子数据管理93：从摄影数据测量电子衍射强度的程序

T·Z·程,J.F.王,Z.H.万和B.D.Sha先生

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XRDA公司：在PC上进行能量色散X射线衍射分析的程序

S.除灰器和K.拉加雷克

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计算机程序摘要

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统计资料记录92–用直接法自动求解晶体结构的程序

A.Altomare公司,G.卡斯卡拉诺,C.贾科瓦佐,A.瓜里亚尔迪,M.C.伯拉,G.波利多里和M.卡马利

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SIRPOW公司.92–通过粉末数据优化的直接方法自动求解晶体结构的程序

A.Altomare公司,G.卡斯卡拉诺,C.贾科瓦佐,A.瓜利亚尔迪,M.C.伯拉,G.波利多里和M.卡马利

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SUPERIMPOSE（叠加）–空间相关分子（包括大分子）的明确结构叠加程序

K.Diederichs公司

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ORTEP公司92–改进的PC版本

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项目ZKI–粉末衍射数据分析程序系统

W.Łasocha公司和K.莱温斯基

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ORTEX公司2.1–1677-atom版本的ORTEP公司带有用于PC的自动单元格轮廓和单元格包装

P.McArdle先生

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晶体学家

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结晶仪

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笔记和新闻

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笔记和新闻

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新的商业产品

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新商业产品

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书评

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Rietveld方法。（IUCr晶体学专著，第5期）编辑：R.A.Young

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高温下的X射线衍射:一种现场处理分析方法作者：D.D.L.Chung、P.W.DeHaven、H.Arnold和D.Ghosh

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