2.理论
在我们之前的工作中,我们计算了地图中局部r.m.s.电子密度的标准偏差。使用间距约为地图分辨率三分之一的网格进行计算,网格位于边缘五个网格单位的方框中,局部均方根密度的标准偏差是从整个区域的重叠方框中获得的非对称单元晶体(Terwilliger&Berendzen,1999)一). 我们发现,盒子的精确尺寸和重叠对计算的影响很小。在这里,我们使用一种密切相关但更具普遍性的方法,其中计算了电子密度局部粗糙度的总体方差。我们使用窗口函数定义计算电子密度局部方差(粗糙度)的区域,而不是使用重叠方框来确定单元中各点的局部均方密度变化。任何窗口函数都可以用于此目的,但最方便的是高斯函数。
地图中的局部粗糙度[第页(x个)]可以用以x个:
或同等
哪里是平均局部电子密度,由
和克(x个)是一个任意窗口函数。如果窗函数是具有单位体积和方差的三维高斯函数(对于每个分量x个,年,z(z))第页,共页σ2那么它可以表示为
差异()整个电子密度的局部粗糙度单位电池然后由给出
哪里和V(V)是单位单元的体积。
为了计算电子密度局部粗糙度的方差,,英寸倒易空间,我们使用的事实是(2)右侧的第一项)表示的卷积ρ2(x个)和克(x个),还有那个英寸(2)反过来是卷积ρ(x个)和克(x个). 电子密度ρ(x个),假设为实函数,以及平方电子密度ρ2(x个)可以表示为(立方英尺.Bracewell,1986年)
和
分别,其中小时≡ (小时一*,kb条*,我c(c)*)和倒易点阵向量是一*,b条*以及c(c)*. 系数B类小时可以根据结构因素计算F类小时使用关系
对的所有值求和k.高斯函数克(x个)可以很容易地用傅里叶空间表示;例如,它在关于原子的电子密度高斯分布的傅里叶变换中表现为温度因子。以原点为中心的单位体积和方差为ρ2是
哪里
和S公司小时是散射矢量的大小.
作为(3)是的卷积ρ(x个)和克(x个),我们可以写
其中系数问小时只是原始结构因素F类小时受到指数因子的影响G公司小时,
(2)右侧的第二项)现在可以用(7)和(8)作为
其中系数基于阻尼结构系数问k英寸(12),
接下来,作为(2)右侧的第一项)是的卷积和克(x个),我们可以写
其中系数T型小时由提供
我们现在可以表示地图(1)的局部粗糙度)在表单中
其中系数R(右)小时由提供
期望的方差在(5))由两部分组成第页2(x个)和平均值的平方第页(x个)超过单位单元格。的平均值第页(x个)超过单位电池就是简单的小时=其相应变换的(0,0,0)项,R(右)000类似地第页2(x个)由小时=其变换的(0,0,0)项。使用Parseval定理(立方英尺.Bracewell,1986年),的平均值第页2(x个)可以用形式表示
其中积分取单位-细胞体积。
最后,局部粗糙度的方差()英寸(5)可以写为
或者更简单地说
图1(b条)表明,在相位精度极低(〈cos(Δθ)〉<0.25),log的值()导致只有50%的机会选择精度不同的两个相位组中更好的一个。对于值为〈cos的相位组(Δθ)〉从0.25到0.4,但是,选择两个相差此数量的相位组中更好的相位组的概率从0.6增加到0.9。(21)中序列中的58个最低阶项)给出与364个最低订单条款几乎相同的正确选择可能性。这意味着可以忽略高阶项而不产生实质性影响。