Ко - Чаирс
Джеймс М. Тиен, Университет Майами, США
C. L. Philip Chen, Университет Макау, Китай
Члены
Francisco Vallverdu Bayes, Universitat Politècnica de Catalunya Barcelona Tech, Spain
Jian Chen, Tsinghua University, Китай
Yu Chen, Renmin University of China, Китай
Т. С. Эдвин Ченг, Гонконгский политехнический университет, Китай
Waiman Cheung, Китайский университет Гонконга, Китай
Shicheng D, Royal Institute of Technology - KTH, Швеция
Dingyi Dai, China Federation of Logistics & Purchasing, Китай
Xuedong Gao, Университет науки и техники, Пекин, Китай
David Gonzalez - Prieto, Universitat Politècnica de Catalunya Barcelona Tech, Spain
Liming He, China Federation of Logistics & Purchasing, Китай
Harald M. Hjelle, Molde University College, Norway
Joachim Juhn, Anglia Ruskin University, UK
Ким Кап - Хван, Пусанский национальный университет, Корея
Гарольд Крикке, Тилбургский университет, Нидерланды
Эрвин ван дер Лян, RSM Erasmus University, The Netherlands
Дер - Хорн Ли, Национальный университет Сингапура, Сингапур
Dong Li, University of Liverpool, UK
Menggang Li, China Center for Industrial Security Research, Китай
Cheng - Chang Lin, National Cheng Kung University, Taipei, Китай
Kecheng Liu, Университет Реадинга, UK
Oriol Lordan, Universitat Politècnica de Catalunya Barcelona Tech, Spain
Qining Mai, The University of Hong Kong, Китай
Drenser Martin, Университет Мэриленда, США
Theo Notteboom, Университет Антверпа, Бельгия
Яннис А. Филлис, Технический университет Крита, Греция
Robin Qiu, Pennsylvania State University, USA
Jurgita Raudeliuniene, Vilnius Gediminas Technical University, Lithuanian
Линда Розенман, Университет Виктории, Австралия
Куросу Сейджи, Университет Васеды, Япония
Zuojun (Max) Shen, University of California, Berkeley, США
Carlos Sicilia, Universitat Politècnica de Catalunya BarcelonaTech, Испания
Pep Simo, Universitat Politècnica de Catalunya BarcelonaTech, Spain
Dong - Wook Song, Edinburgh Napler University, UK
Jelena Stankeviciene, Vilnius Gediminas Technical University, Lithuanian
JaumeValls - Pasola, Universitat Politècnica de Catalunya Barcelona Tech, Spain
David C. Yen, Miami University, USA