Spotlight400IR成像系统
Spotlight400N NIR成像系统

使用阵列检测器快速扫描采样表面，并将红外区域的信息表示为二维采样或所需的图像。成像大小可以自由设定，获取数据。

实现超高速IR成像
成像区域可以自由变化

世界上首次采用了将红外显微镜的自动台和线性MCT阵列检测器同步的同步扫描干涉仪同步系统（专利）。这样可以进行超高速扫描。

成像和显微IR测量并存

专利Duet™，™检测器将线性阵列元件和单元件排列成同一面状，编入杜瓦。无需切换检测器即可成像，除透射/反射测量外，还可进行显微ATR测量。为各种应用程序提供最佳性能。

检测器的像素尺寸从1.56µm（ATR）、6.25µm、25µm、50µm中选择

可通过软件控制调整检测元件的倍率，指定空间分辨率。不需要麻烦的零件更换等。

支持ATR成像

标准水晶支持400µm×400µm的广域测量。大容量型可以进行750µm×750µm～400µm×1000µm的大范围测定。

成像测量到低波数

标准650cm^-1此外，业界唯一的宽带阵列（-580厘米）^-1）或InGaAs检测器也可选择（可选）。

光谱检索库（数据库）

在FTIR测量的样品分析中，质谱库检索是最重要的方法之一。
附带化合物、高分子、医药品等约19000光谱。

可进行NIR成像测量

Spotlight400N系统可以对NIR区域进行成像。

主要规格
可视观察	CCD摄像机
可见光源	白色LED
点位测量模式	透射/反射/ATR
成像测量模式	透射/反射/ATR
点位测量波数范围	7800-600cm^-1（MCT）
点位测量波数范围	10000-4000cm^-1（InGaAS）
成像测量波数范围	7800-650cm^-1（透射、反射）
	4500-680cm^-1（ATR）
	7800-580cm^-1（宽带MCT，可选）
	7800-4000cm^-1（InGaAS，可选）
点位测量SN比	12000:1（1分钟累计）
成像像素大小	50µm×50µm、25µm×25µm、6.25µm×6.25µm
ATR成像像素大小	6.25µm×6.25µm、1.56µm×1.56µm
成像区	100µm×100µm～50mm×50mm任意可变
ATR成像区	最大400µm×400µm、100µm×500µm（标准晶体）
ATR成像区	最大750µm×750µm、400µm×1000µm（大水晶）
微型ATR	100µmφ圆锥状Ge晶体（标准）
	100µmφ圆锥状Si晶体（可选）
	100µmφ圆锥状DLC-Ge晶体（可选）
自动ATR	用软件控制水晶的存取
自动ATR	软件控制压力监控
舞台	XYZ自动舞台
自动控制	行扫描，映射XYZ舞台自动聚焦、自动收藏、孔径、透射/反射切换、红外/可见切换、照明亮度
舞台	75×50mm（标准载物台）
舞台	160×60毫米（大舞台，可选）
尺寸（W×H×D）	Spotlight主机：340×470×570mm Spectrum3主机：520×300×600mm
重量	Spotlight:32Kg Spectrum3:34Kg