BibTeX记录日志/et/XieLXXZ14
@文章{DBLP:journals/et/XieLXXZ14， author={谢永乐和 李熙峰和 谢三山和 Xuan Xie和 周启忠}， title={通过频率响应函数对模拟电路进行软故障诊断 测量}， 期刊={J.电子测试}， 体积={30}， 数字={2}， 页数={243--249}， 年份={2014}， url={ https://doi.org/10.1007/s10836-014-5445-9 }, doi={10.1007/S10836-014-5445-9}， 时间戳＝{2020年9月11日星期五15:03:08+0200}， biburl={ https://dblp.org/rec/journals/et/XieLXXZ14.bib }, bibsource={dblp计算机科学书目， 网址：https://dblp.org } }
