BibTeX记录日志/et/XieLBZXX15
@文章{DBLP:journals/et/XieLBZXX15， author={Xian Xie和 李熙峰和 毕东杰和 周启中和 谢三山和 谢永乐}， title={利用R{\'{e}}nyi熵进行模拟电路软故障诊断}， 期刊={J.电子测试}， 体积＝{31}， 数字＝{2}， 页数={217--224}， 年份={2015年}， url={ https://doi.org/10.1007/s10836-015-5520-x网址 }, doi={10.1007/S10836-015-5520-X}， timestamp={2020年9月11日星期五15:02:46+0200}， biburl={ https://dblp.org/rec/journals/et/XieLBZXX15.bib }, bibsource={dblp计算机科学书目， 网址：https://dblp.org } }
