“12.8 GB/s宽IO DRAM控制器的可测试性改进很小……”
野村隆雄 , 森龙朗 , 伊藤文弘 , Koji Takayanagi公司 , Ochiai先生 , 福冈和崎 , 大藤一雄 , Koji Nii公司 , 盛田佳彦 , 桥本聪(Tomoaki Hashimoto) , Kida津桥 , 山田纯一 , 田中秀喜 :
通过小面积预键合TSV测试和1GHz采样全数字噪声监测器,提高12.8GB/s宽IO DRAM控制器的可测试性。 中金公司 2013 : 1-4
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