田田武美
人员信息
优化列表
2000 – 2009
2006 【c23】 Masaki Hashizume先生 , 西田友美 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 , 三浦由纪弥 :
电阻串DAC的电流可测试设计。 三角洲 2006 : 197-200 2005 [公元22年] 桥久美正树 , 一宫Masahiro Ichimiya , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
通过电源电流测试检测CMOS逻辑电路中开路引线的电场。 国际会计准则委员会(3) 2005 : 2995-2998 2004 [j7] Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 , 田田武美 :
减少IDDQ测试时间的测试序列生成。 IEICE传输。 信息系统。 87天 ( 三 ) : 537-543 ( 2004 ) [j6] Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
CMOS电路中产生逻辑振荡的反馈桥接故障的识别和频率估计。 IEICE传输。 信息系统。 87天 ( 三 ) : 571-579 ( 2004 ) [j5] 一宫Masahiro Ichimiya , Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
CMOS逻辑电路中产生振荡的引脚短路测试电路。 系统。 计算。 日本。 35 ( 13 ) : 10-20 ( 2004 ) 【c21】 Masaki Hashizume先生 , Yoneda大辅 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 铁雄大田 , 小山武史 , 盛田一郎 , 田田武美 :
噪声电流测量环境中基于小波变换的I_DDQ测试方法。 亚洲测试研讨会 2004 : 112-117 [公元20年] Masaki Hashizume先生 , 秋田忠雄 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
通过开关电源电流出现时间检测CMOS开路故障。 三角洲 2004 : 183-188 [第19条] Isao Tsukimoto先生 , Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
双极IC电源电流测试的实际故障覆盖率。 三角洲 2004 : 189-194 [第18条] 大辅Ezaki , Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
绝热动态CMOS逻辑电路中的电源电路回收电荷。 三角洲 2004 : 306-311 2003 [第17条] Masaki Hashizume先生 , 铁皮武田 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 , 三浦由纪弥 , Kozo Kinoshita公司 :
用于IDDQ测试的BIST电路。 亚洲测试研讨会 2003 : 390-395 2002 [第16条] Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 , 田田武美 :
通过排列测试向量减少I DDQ测试的测试时间。 亚洲测试研讨会 2002 : 423-428 [第15条] Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 , 岩崎大辅 , 一宫Masahiro Ichimiya , 田田武美 :
应用时变电场的开放式缺陷检测方法的随机模式可测试性。 三角洲 2002 : 387-391 [第14条] Masaki Hashizume先生 , 佐藤正史 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
绝热动态CMOS逻辑电路高速运行的电源电路。 三角洲 2002 : 459-461 2001 [第13条] Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Shinsuke Hata公司 , Masaki Hashizume先生 , 田田武美 :
使用测试生成和多个不可访问状态的顺序冗余删除。 亚洲测试研讨会 2001 : 23- [第12条] Masaki Hashizume先生 , 一宫Masahiro Ichimiya , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
基于时变电场中电源电流和电源电压应用的CMOS开路缺陷检测。 亚洲测试研讨会 2001 : 117-122 [第11条] Masaki Hashizume先生 , 一宫Masahiro Ichimiya , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
通过电源电流测试进行CMOS开路缺陷检测。 日期 2001 : 509 [第10条] Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 , 岩崎泰辅 , 一宫Masahiro Ichimiya , 田田武美 :
应用时变电场对开放性缺陷进行电源电流测试的测试模式。 DFT(干膜厚度) 2001 : 287- 2000 【c9】 Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 一宫Masahiro Ichimiya , 田田武美 , 武田正史 :
高速IDDQ测试及其对过程变化的可测试性。 亚洲测试研讨会 2000 : 344-349 【c8】 Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 , 武田正史 :
大阈值IDDQ测试的可测性分析。 DFT(干膜厚度) 2000 : 367-375
1990 – 1999
1999 【c7】 Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
振荡反馈桥接故障的识别。 亚洲测试研讨会 1999 : 25- 1998 【c6】 Masaki Hashizume先生 , 三浦由纪弥 , 一宫Masahiro Ichimiya , 田田武美 , Kozo Kinoshita公司 :
一种用于低压集成电路的高速IDDQ传感器。 亚洲测试研讨会 1998 : 327- 1997 【c5】 Masaki Hashizume先生 , 久井俊美 , 田田武美 :
闸门电气特性单位对单位变化的电源电流测试。 亚洲测试研讨会 1997 : 372-377 1996 【c4】 久井俊美 , 桥久美正树 , 田田武美 :
TTL组合电路电源电流测试的算法测试生成。 亚洲测试研讨会 1996 : 171-176 1994 【c3】 桥久美正树 , 田田武美 , 坂本昭夫 :
一种简化不完全指定机器的最大团推导算法。 国际会计准则委员会 1994 : 193-196 1990 【c2】 Masaki Hashizume先生 , 田田武美 , Koji Nii公司 :
基于满意水平约束的凸模糊决策的模拟电路参数调整方法。 ICCD公司 1990 : 24-28
1980 – 1989
1989 【j4】 田田武美 :
使用具有必要且最小冗余的p元表示的高速多操作数加减法。 系统。 计算。 日本。 20 ( 4 ) : 59-70 ( 1989 ) [j3] Masaki Hashizume先生 , 山本弘介 , 田田武美 , Toshiaki Hanibuti公司 :
使用内容寻址存储器的检索系统的评估。 系统。 计算。 日本。 20 ( 7 ) : 1-9 ( 1989 ) 1988 [注2] 田田武美 :
使用最小冗余p元表示的高速加减法。 系统。 计算。 日本。 19 ( 11 ) : 33-39 ( 1988 ) 【c1】 Masaki Hashizume先生 , 田田武美 , 山田和弘 , 川崎正男(Masaaki Kawakami) :
基于电源电流的组合电路故障检测。 国际贸易中心 1988 : 374-380 1980 [j1] 田田武美 :
具有准稳定状态的顺序机器。 IEEE传输。 计算机 29 ( 5 ) : 405-408 ( 1980 )