R.贝塔什
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2000 – 2009
2009 [j1] 马克西米利安·达曼 , W.Pletschen先生 , 帕特里克·沃尔特里特 , 沃尔夫冈·布朗纳 , 吕迪格码头 , 斯特凡·米勒 , 迈克尔·米库拉 , 奥利弗·安巴赫 , P.J.范德威尔 , S.穆拉德 , T.Rödle公司 , R.贝塔什 , F.布尔乔亚 , K.里佩 , 马丁·法格林德 , 埃纳尔·斯维因布约恩松 :
下一代移动通信系统中AlGaN/GaN HEMT的可靠性和退化机制。 微电子。 Reliab公司。 49 ( 5 ) : 474-477 ( 2009 )
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