桑迪普·库马尔·戈尔
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2020年–今天
2023 [公元39年] 安舒曼·钱德拉 , 莫伊兹·汗 , 安基塔·帕蒂达尔 , Fumiaki Takashima公司 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 巴拉斯·桑卡拉纳拉亚南 , Vuong Nguyen先生 , 维斯特里塔·泰吉 , 曼尼什·阿若拉 :
符合IEEE 1838标准的多段3DIC DFT实现案例研究。 国际贸易中心 2023 : 11-20 2022 [公元38年] 桑迪普·库马尔·戈尔 :
3D织物的挑战和解决方案:铸造厂的观点。 ISPD公司 2022 : 93 [公元37年] 桑迪普·库马尔·戈尔 , Sandeep Pendharkar公司 , 刘春生 :
创新实践轨道:3D IC和芯片测试。 悉尼威立雅运输公司 2022 : 1 2020 [公元10年] 木山林 , 黄子江 , 蔡建春 , King-Ho Tam公司 , 谢成雄(Kenny Cheng Hsiang Xieh) , 陈庆芳 , 黄文洪 , 胡志伟 , 陈玉池 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 金明福 , 斯特凡·鲁苏 , 李超车 , 杨盛尧 , 王梅(Mei Wong) , 杨树春 , 李功赋 :
一种用于高性能计算的7-nm 4-GHz Arm¹-Core-Based CoWoS¹芯片设计。 IEEE J.固态电路 55 ( 4 ) : 956-966 ( 2020 )
2010 – 2019
2019 [c36] 木山林 , 黄子江 , 蔡建春 , King-Ho Tam公司 , 谢国健 , 陈仕平 , 黄文洪 , 胡哲维 , 陈玉池 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 金明福 , 斯特凡·鲁苏 , 李超车 , 盛尧阳 , 王梅(Mei Wong) , 杨树春 , 李功赋 :
7nm 4GHz臂 ® -基于核心的CoWoS ® 高性能计算芯片设计。 VLSI电路 2019 : 28- 2015 [公元9年] 乌尔班·英格尔森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·拉尔森 , 埃里克·扬·马里尼森 :
无抢占和有抢占的模块化SOC的失效测试调度。 IEEE传输。 计算机 64 ( 12 ) : 3335-3347 ( 2015 ) [c35] 李紫鹏 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 李功赋 , 克里什南杜·查克拉巴蒂 :
数字电路中用于增强可诊断性的有效观测点插入。 国际贸易中心 2015 : 1-10 2014 [j8] Chun-Chuan Chi先生 , 埃里克·扬·马里尼森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 吴成文 :
含无源硅插入器基座的三维集成电路的低成本键合后测试。 IEEE传输。 超大规模集成电路。 系统。 22 ( 11 ) : 2388-2401 ( 2014 ) [公元34年] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 王敏杰 , 萨曼·阿德姆 , 阿肖克·梅塔 , 李功赋 :
设计-诊断:您在CoWoS中捕捉已知良好模具设计错误的安全网 TM(TM) /3D IC。 超大规模集成电路(VLSI-DAT) 2014 : 1-4 [第3页] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 纳伦德拉·德夫塔·普拉桑纳 :
小延迟缺陷的混合/顶层测试模式生成方案。 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷测试 2014 : 147-160 [第2页] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
基于电路拓扑的小延迟缺陷测试模式生成。 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷测试 2014 : 161-184 [第1页] 纳伦德拉·德夫塔·普拉桑纳 , Sandeep Kumar Goel公司 :
小延迟缺陷覆盖度量。 纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷测试 2014 : 185-210 [电子1] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
纳米CMOS集成电路中的小延迟缺陷测试。 出版社 2014 ,国际标准图书编号 978-1-439-82941-7 [目录] 2013 [公元33年] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 萨曼·阿德姆 , 王敏杰 , 陈季扬(Ji-Jan Chen) , 黄子江 , 阿肖克·梅塔 , 李功赋 , Vivek Chickermane公司 , 布莱恩·凯勒 , 托马斯·瓦林德 , Subhasish穆克吉 , Navdeep Sood公司 , Jeongho Cho(赵真浩) , 海登·亨东·李 , Jungi Choi先生 , 桑杜·金 :
基于TSMC CoWoS™堆叠工艺的异构3D IC的测试和调试策略:硅案例研究。 国际贸易中心 2013 : 1-10 2012 [公元32年] 埃里克·扬·马里尼森 , 吉尔伯特·范德林 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 弗里德里希·哈普克 , 杰森·里弗斯 , 尼古拉·米特迈尔 , Swannil Bahl公司 :
EDA解决方案用于先进工艺技术中的新缺陷检测。 日期 2012 : 123-128 [公元31年] 桑迪普·库马尔·戈尔 :
设计复杂3D芯片的测试挑战:EDA行业的前景如何 设计师跟踪。 国际计算机辅助设计协会 2012 : 273 [公元30年] 谢尔盖·多伊奇 , 布莱恩·凯勒 , Vivek Chickermane公司 , Subhasish Mukherjee市 , Navdeep Sood公司 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 陈季扬(Ji-Jan Chen) , 阿肖克·梅塔 , 李功赋 , 埃里克·扬·马里尼森 :
JEDEC Wide-I/O内存逻辑芯片堆栈互连测试的DfT架构和ATPG。 国际贸易中心 2012 : 1-10 2011 [j7] 布兰登·诺亚 , 克里希南德·查克拉巴蒂 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , Jouke Verbree公司 :
基于TSV的三维堆叠集成电路的测试架构优化和测试调度。 IEEE传输。 计算。 辅助设计。 集成。 电路系统。 30 ( 11 ) : 1705-1718 ( 2011 ) [公元29年] 谢尔盖·多伊奇 , Vivek Chickermane公司 , 布赖恩·L·凯勒 , Subhashish慕克吉 , 马里奥·科尼恩伯格 , 埃里克·扬·马里尼森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 :
3D-DfT插入自动化。 亚洲测试研讨会 2011 : 395-400 [公元28年] Chun-Chuan Chi先生 , 埃里克·扬·马里尼森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 吴成文 :
多视点TAM使用无源硅插入器底座减少2.5D-SIC的键后测试长度。 亚洲测试研讨会 2011 : 451-456 [公元27年] Chun-Chuan Chi先生 , 埃里克·扬·马里尼森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 吴成文 :
多塔3D-SIC的DfT架构。 电动滑行系统 2011 : 51-56 [公元26年] 春川池 , 埃里克·扬·马里尼森 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 吴成文 :
包含无源硅中间层底座的2.5D-SIC和3D-SIC的键后测试。 国际贸易中心 2011 : 1-10 2010 [c25] Sandeep Kumar Goel公司 , 克里希南德·查克拉巴蒂 , 马赫穆特·伊尔马兹 , 柯鹏 , 穆罕默德·特赫拉尼普尔 :
基于电路拓扑的小延迟缺陷测试模式生成。 亚洲测试研讨会 2010 : 307-312 [公元24年] 布兰登·诺亚 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 克里希南德·查克拉巴蒂 , 埃里克·扬·马里尼森 , Jouke Verbree公司 :
基于TSV的3D堆叠IC的测试架构优化。 电动滑行系统 2010 : 24-29
2000 – 2009
2009 [j6] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , 阿努贾·塞格尔 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
具有分层核心的SoC测试:常见错误、测试访问优化和测试调度。 IEEE传输。 计算机 58 ( 三 ) : 409-423 ( 2009 ) 【c23】 纳伦德拉·德夫塔·普拉桑纳 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 阿伦·冈达 , 马克·沃德 , P.克里希纳穆提 :
精确测量测试模式的小延迟缺陷覆盖率。 国际贸易中心 2009 : 1-10 [公元22年] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 纳伦德拉·德夫塔·普拉桑纳 , 马克·沃德 :
比较确定性桥接故障和多检测粘连故障模式对物理桥接缺陷的有效性:模拟和硅研究。 国际贸易中心 2009 : 1-10 【c21】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 纳伦德拉·德夫塔·普拉桑纳 , Ritesh P.Turakhia公司 :
针对小延迟缺陷的高效测试模式生成。 悉尼威立雅运输公司 2009 : 111-116 [公元20年] Ritesh P.Turakhia公司 , 马克·沃德 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , Brady Benware公司 :
桥接DFM分析和产量学习量诊断-案例研究。 悉尼威立雅运输公司 2009 : 167-172 2007 [j5] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 莫里斯·梅耶尔 , 何塞·派尼达·德·Gyvez :
SOC中故障电源开关的有效测试和诊断。 IET计算。 数字。 技术。 1 ( 三 ) : 230-236 ( 2007 ) [i1] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
系统芯片优化多站点测试的片上测试基础设施设计。 CoRR公司 abs/0710.4687 ( 2007 ) 2006 [第19条] 哈拉尔德·P·E·弗兰肯 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 安德烈亚斯·格洛瓦茨 , 尤根·施洛菲尔(Jürgen Schlöffel) , 弗里德里希·哈普克 :
使用奇偶树进行故障检测和诊断,以压缩测试响应的空间。 数模转换器 2006 : 1095-1098 [第18条] 阿努贾·塞格尔 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
基于核心的系统芯片的分层感知和区域高效测试基础设施设计。 日期 2006 : 285-290 [第17条] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 莫里斯·梅耶尔 , 何塞·派尼达·德·Gyvez :
SOC中电源开关的测试和诊断。 电动滑行系统 2006 : 145-150 2005 [第16条] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
系统芯片优化多站点测试的片上测试基础设施设计。 日期 2005 : 44-49 [第15条] 乌尔班·英格尔森 , Sandeep Kumar Goel公司 , 埃里克·拉尔森 , 埃里克·扬·马里尼森 :
模块化SOC在失败即中止环境中的测试调度。 电动滑行系统 2005 : 8-13 2004 [第14条] 巴特·弗默伦 , 穆罕默德·扎尔法尼·乌尔芬托 , 桑迪普·库马尔·戈尔 :
硅调试断点硬件的自动生成。 数模转换器 2004 : 514-517 [第13条] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 郭树秋 , 埃里克·扬·马里尼森 , 托安·阮 , 史蒂文·奥斯蒂克 :
Nexperia的测试基础设施设计? 家庭平台PNX8550系统芯片。 日期 2004 : 108-113 [第12条] 卢多维奇·A·克伦德尔 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , Marie-Lise Flottes公司 , 布鲁诺·鲁泽尔 :
模块化SOC测试的用户约束测试架构设计。 电动滑行系统 2004 : 80-85 [第11条] 阿努贾·塞格尔 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , 克里什南杜·查克拉巴蒂 :
IEEE P1500——符合分层核心的测试包装设计。 国际贸易中心 2004 : 1203-1212 2003 【j4】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 巴特·弗默伦 :
多时钟系统芯片上基于扫描调试的数据失效分析。 《电子杂志》。 测试。 19 ( 4 ) : 407-416 ( 2003 ) [j3] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
基于核的系统芯片测试体系结构设计的测试时间缩减算法。 《电子杂志》。 测试。 19 ( 4 ) : 425-435 ( 2003 ) [注2] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
有效利用测试带宽的SOC测试架构设计。 ACM事务处理。 设计自动化。 选举人。 系统。 8 ( 4 ) : 399-429 ( 2003 ) [第10条] 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
布局驱动的SOC测试体系结构设计,用于测试时间和线长最小化。 日期 2003 : 10738-10741 【c9】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
模块化SOC测试的控制软件测试架构设计。 电子战 2003 : 57-62 2002 [j1] 巴特·弗默伦 , Sandeep Kumar Goel公司 :
调试设计:捕获数字芯片中的设计错误。 IEEE设计。 测试计算。 19 ( 三 ) : 37-45 ( 2002 ) 【c8】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
一种用于核心系统芯片测试体系结构设计的新型测试时间缩减算法。 ETW公司 2002 : 7-12 【c7】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 巴特·弗默伦 :
多时钟系统芯片上基于扫描的调试数据失效分析。 ETW公司 2002 : 第61页至第66页 【c6】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
SOC的高效测试体系结构设计。 国际贸易中心 2002 : 529-538 【c5】 巴特·弗默伦 , 汤姆·沃耶斯 , 桑迪普·库马尔·戈尔 :
用于硅调试的基于内核的扫描体系结构。 国际贸易中心 2002 : 638-647年 【c4】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 巴特·弗默伦 :
多时钟系统芯片上基于扫描调试的分层数据失效分析。 国际贸易中心 2002 : 1103-1110 【c3】 维克拉姆·艾扬格 , 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
ATE内存深度约束下SOC多站点测试的测试资源优化。 国际贸易中心 2002 : 1159-1168 【c2】 桑迪普·库马尔·戈尔 , 埃里克·扬·马里尼森 :
基于集群的系统芯片测试体系结构设计。 悉尼威立雅运输公司 2002 : 259-264 2000 【c1】 Yervant Zorian公司 , 埃里克·扬·马里尼森 , 莫里斯·路易斯伯格 , 桑迪普·库马尔·戈尔 :
嵌入式岩芯测试的包装设计。 国际贸易中心 2000 : 911-920
合著者索引
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