Jaynarayan T.图都
人员信息
优化列表
2020年–今天
2024 【c23】 哈里普利亚·R·S , 苏米特罗·维亚帕里 , Jaynarayan T.图都 :
扫描链测试中基于近阈值门的卡住故障测试。 超大规模集成电路 2024 : 712-717 2022 [公元22年] Anjum Riaz公司 , 高拉夫·库马尔 , Jaynarayan T.图都 , 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 :
保护IJTAG免受数据嗅探和篡改攻击。 超大规模集成电路 2022 : 146-151 [e1] 安比卡·普拉萨德·沙阿 , Sudeb Dasgupta公司 , 阿南德·达尔基 , Jaynarayan T.图都 :
VLSI设计与测试第26届国际研讨会,VDAT 2022,印度查谟,2022年7月17日至19日,修订论文集。 计算机与信息科学中的通信 1687, 施普林格 2022 ,国际标准图书编号 978-3-031-21513-1 [目录] [i1] 拉克希米·巴努普拉卡什·雷迪·孔杜鲁(Lakshmi Bhanuprakash Reddy Konduru) , 维贾亚·拉克希米 , Jaynarayan T.图都 :
近似扫描触发器,以减少功能路径延迟和功耗。 CoRR公司 abs/2212.12360 ( 2022 ) 2021 [j1] Jaynarayan T.图都 , 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , 索纳利·舒克拉 , 维伦德拉·辛格 :
可配置联合扫描设计测试体系结构框架。 《电子杂志》。 测试。 37 ( 5 ) : 593-611 ( 2021 ) 2020 【c21】 葡萄藤G.U , Vineesh V.S.公司。 , Jaynarayan T.图都 , 藤田正弘 , 维伦德拉·辛格 :
具有目标误差保证的基于LUT的电路近似。 自动转换开关 2020 : 1-6
2010 – 2019
2019 [公元20年] 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , Jaynarayan T.图都 , 马诺伊·辛格·高尔 , 藤田正弘 , 维伦德拉·辛格 :
通过测试响应加密防止扫描攻击。 DFT(干膜厚度) 2019 : 1-6 [第19条] 萨蒂亚德夫·阿赫拉瓦特 , 凯拉什·阿希尔瓦尔 , Jaynarayan T.图都 , 藤田正弘 , 维伦德拉·辛格 :
通过纯文本限制保护扫描。 雅思 2019 : 251-252 2018 [第18条] 达赫·瓦加尼 , 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , Jaynarayan T.Tudu先生 , 藤田正弘 , 维伦德拉·辛格 :
通过测试向量加密保护扫描设计。 国际会计准则委员会 2018 : 1-5 2017 [第17条] 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , 达赫·瓦加尼 , Jaynarayan T.图都 , 维伦德拉·辛格 :
关于防止基于扫描的侧信道攻击的安全扫描设计。 自动转换开关 2017 : 58-63 [第16条] 比诺德·库马尔 , 安基特·金达尔 , Jaynarayan T.图都 , 布拉杰什·潘迪 , 维伦德拉·辛格 :
重新访问随机访问扫描以有效增强硅后可观测性。 雅思 2017 : 132-137 [第15条] 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , 达什特·瓦格哈尼 , Jaynarayan T.图都 , 阿肖克·苏哈格 :
一种经济高效的扫描链故障诊断技术。 VDAT公司 2017 : 191-204 2016 [第14条] 比诺德·库马尔 , 博达·尼赫鲁 , 布拉杰什·潘迪 , 维伦德拉·辛格 , Jaynarayan T.图都 :
一种低功耗、卡滞故障可诊断和可重构扫描体系结构的技术。 EWDTS公司 2016 : 1-4 [第13条] 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 , Jaynarayan T.图都 , 余安哲拉。 马托洛索娃 , 维伦德拉·辛格 :
用于串行和混合模式扫描测试的高性能扫描触发器设计。 雅思 2016 : 233-238 [第12条] 比诺德·库马尔 , 博达·尼赫鲁 , 布拉杰什·潘迪 , Jaynarayan T.图都 :
跳过扫描:一种减少测试时间的方法。 VDAT公司 2016 : 1-6 [第11条] 萨蒂亚德夫·阿赫拉瓦特 , Jaynarayan T.图都 :
通过改进的扫描触发器最小化测试功率。 VDAT公司 2016 : 1-6 [第10条] 罗西尼峡谷 , 尼哈尔黑格 , Jaynarayan T.图都 :
关于使用ILP确定瞬时峰值和周期峰值切换。 VDAT公司 2016 : 1-6 【c9】 Jaynarayan T.图都 :
JSCAN:一种联合扫描DFT架构,可将测试时间、模式体积和功耗降至最低。 VDAT公司 2016 : 1-6 【c8】 Jaynarayan T.Tudu先生 , 萨蒂亚德夫·阿拉瓦特 :
引导测试模式的转换,以最小化串行扫描中的测试时间。 VDAT公司 2016 : 1-6 2015 [c7] 萨蒂亚德夫·阿赫拉瓦特 , Jaynarayan T.图都 , 余安哲拉。 马特罗索娃 , 维伦德拉·辛格 :
一种新的扫描触发器设计,可消除扫描的性能损失。 自动转换开关 2015 : 25-30 2013 【c6】 Jaynarayan T.图都 , 迪帕克·马拉尼 , 维伦德拉·辛格 :
使用BILP的组合电路中的电平准确峰值活动估计。 VDAT公司 2013 : 345-352 2012 【c5】 Jaynarayan T.图都 , 迪帕克·马拉尼 , 维伦德拉·辛格 :
基于ILP的组合电路输入矢量控制(IVC)开关最大化方法。 VDAT公司 2012 : 172-179 2010 【c4】 Jaynarayan T.图都 , 埃里克·拉尔森 , 维伦德拉·辛格 , 藤原秀夫 :
扫描单元重新排序以最小化测试周期中的峰值功率:图论方法。 电动滑行系统 2010 : 259 【c3】 阿迪蒂·卡贾拉 , 加亚普拉萨德·辛辛瓦尔 , 拉胡尔·拉杰·乔达里 , Jaynarayan T.图都 , 维伦德拉·辛格 :
相同功能单元延迟测试的状态变量选择。 EWDTS公司 2010 : 200-203 【c2】 Jaynarayan T.图都 , 埃里克·拉尔森 , 维伦德拉·辛格 , 藤原秀夫 :
扫描单元重新排序以最小化峰值移位功率的图论方法。 ACM大湖区超大规模集成电路研讨会 2010 : 73-78
2000 – 2009
2009 【c1】 Jaynarayan T.图都 , 埃里克·拉尔森 , 维伦德拉·辛格 , 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
测试期间扫描电路峰值功率的最小化。 电动滑行系统 2009 : 25-30