格里戈尔·查查利扬
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2020年–今天
2024 [第19条] Zhe Zhang(张哲) , 马哈塔·马亚希尼亚 , 克里斯蒂安·魏斯 , 诺伯特·韦恩 , Mehdi B.Tahoori公司 , 萨尼·纳西夫 , 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
解决SRAM中晶体管和互连老化对硅生命周期管理的联合影响。 悉尼威立雅运输公司 2024 : 1-5 2023 [c18] 马哈塔·马亚希尼亚 , 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 , 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
用于纳米VLSI硅生命周期管理的芯片上电迁移传感器。 电动滑行系统 2023 : 1-4 [第17条] Costas Argyrides公司 , 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
利用ECC分析改进内存生命周期管理。 国际贸易中心 2023 : 383-387 [第16条] 克兰西·坎杜拉 , 拉马林加姆·科利塞蒂 , 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
汽车SoC的SLM子系统:路径裕度监测案例研究。 国际贸易中心 2023 : 388-392 [第15条] 阿图尔·古卡西安 , 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
克服网关全方位时代的嵌入式内存测试和修复挑战。 悉尼威立雅运输公司 2023 : 1-4 [第14条] 柯青欧阳 , 彭敏强 , 朱云农 , 康琪 , 格里戈尔·查查利扬 , 阿伦·库马尔 , 古根·哈鲁特云扬 , Isaac Wang(艾萨克·王) :
高效的外部存储器测试解决方案:HPC应用的案例研究。 悉尼威立雅运输公司 2023 : 1-4 2022 [第13条] 马哈塔·马亚希尼亚 , Mehdi B.Tahoori公司 , 古根·哈鲁特云扬 , 格里戈尔·查查利扬 , 卡伦·阿米尔卡尼扬 :
用于检测高级FinFET存储器中电迁移影响的有效测试策略。 国际贸易中心 2022 : 650-655 [第12条] 彭敏强 , 吴友发 , 李嘉良 , 亚历克斯·于 , 格里戈尔·查查利扬 , Costas Argyrides公司 , 维拉斯·斯里德哈兰 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 , 尼兰詹·穆克吉 :
创新实践跟踪:汽车业的下一步:在何处以及如何改进现场测试和提高SoC安全性。 悉尼威立雅运输公司 2022 : 1
2010 – 2019
2019 [第11条] 萨拉斯·莫哈纳坎德兰·奈尔 , 拉金德拉·比什诺伊 , 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 , 海克·格里戈良 , 格里戈尔·查查利扬 :
STT-MRAM的变分软件故障建模和测试生成。 雅思 2019 : 80-83 [第10条] S.Bandyopadhyay公司 , J.梅科特 , 马克·赫特纳 , 海克·格里戈良 , 阿伦·库马尔 , Samvel K.Shoukourian公司 , 格里戈尔·查查利扬 , Yervant Zorian公司 , 加布里埃尔·博斯基 , 杜西奥·拉扎罗蒂 , 多纳托·隆戈 , 汉娜·沙欣 , 古根·哈鲁特云扬 :
系统内测试和存储器可靠性的创新实践。 悉尼威立雅运输公司 2019 : 1 2018 【c9】 戴维·海勒普蒂安 , Aleksandr Manukvan公司 , 格里戈尔·查查利扬 :
在寄存器传输级实现存储器静态、耦合和动态故障模型。 EWDTS公司 2018 : 1-4 【c8】 萨拉斯·莫哈纳坎德兰·奈尔 , 拉金德拉·比什诺伊 , 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 , 格里戈尔·查查利扬 , 海克·格里戈良 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
STT-MRAM的缺陷注入、故障建模和测试算法生成方法。 国际贸易中心 2018 : 1-10 【c7】 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 , Anteneh Gebregiorgis公司 , 穆罕默德·萨伯·戈兰巴里 , 拉金德拉·比什诺伊 , 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 :
汽车应用FinFET存储器老化故障的建模和测试。 国际贸易中心 2018 : 1-10 2017 【c6】 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Samvel K.Shoukourian公司 , Yervant Zorian公司 :
嵌入式应用环境下汉明和肖码的实验研究。 EWDTS公司 2017 : 1-4 【c5】 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Yervant Zorian公司 :
一种有效的汽车系统功能安全解决方案-片上。 国际贸易中心 2017 : 1-10 2016 【c4】 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Samvel K.Shoukourian公司 , Yervant Zorian公司 :
保护系统对芯片的测试基础设施。 EWDTS公司 2016 : 1-4 2015 【c3】 格里戈尔·查查利扬 , 古根·哈鲁特云扬 , Samvel K.寿库里安 , Yervant Zorian公司 :
基于FinFET存储器的故障建模和测试方法开发概述研究。 EWDTS公司 2015 : 1-4 【c2】 古根·哈鲁特云扬 , 格里戈尔·查查利扬 , Yervant Zorian公司 :
参数变化对FinFET故障的影响。 悉尼威立雅运输公司 2015 : 1-4 2014 【c1】 古根·哈鲁特云扬 , 格里戈尔·查查利扬 , 瓦列里·A·瓦尔达尼安 , Yervant Zorian公司 :
基于FinFET存储器的故障建模和测试算法创建策略。 悉尼威立雅运输公司 2014 : 1-6
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