阿卜杜拉希姆·杜马
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2010 – 2019
2011 [第13条] 法里德·拉赫拉赫 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 埃里克·查特勒 :
通过配置帧实现基于SRAM的FPGA的容错。 DDECS公司 2011 : 139-142 [第12条] 法里德·拉赫拉赫 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 埃里克·查特勒 :
基于SRAM的FPGA系统中多逻辑故障的容错性。 DSD公司 2011 : 231-238 [第11条] 阿卜杜拉扎克·阿卜杜伊 , K.古拉姆 , M.辛格 , A.埃兰达尼 , 埃里克·查特勒 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 塔里克·M·埃尔·福利 :
USB 2.0 CMOS摄像头与嵌入式FPGA系统之间的视频采集。 ICSPCS公司 2011 : 1-5 2010 [第10条] 法里德·拉赫拉赫 , 阿卜杜拉泽克·阿卜杜伊 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 埃里克·查特勒 :
一种新的基于SRAM的FPGA架构,用于可配置逻辑块的缺陷和容错。 DDECS公司 2010 : 305-308 【c9】 法里德·拉赫拉赫 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 埃里克·查特勒 , 阿卜杜拉泽克·阿卜杜伊 :
基于SRAM的FPGA的主从TMR容错技术。 超大规模集成电路 2010 : 58-62
2000 – 2009
2007 【c8】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 肯塔罗·加藤 , 伊藤秀雄 :
基于部分可重构性的JPEG2000容错SoC体系结构设计。 DFT(干膜厚度) 2007 : 31-40 2005 【c7】 肯塔罗·加藤 , 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀雄 :
使用可配置硬件和扫描移位设计IEEE P1500兼容内核的SoC在线测试。 雅思 2005 : 203-204 2003 [j1] 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀夫 :
基于SRAM的现场可编程门阵列的故障检测、诊断和容错:一项调查。 IEEE传输。 超大规模集成电路。 系统。 11 ( 三 ) : 386-405 ( 2003 ) 2000 【c6】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀雄 :
基于FPGA的容错系统中的测试方法。 亚洲测试研讨会 2000 : 411-416 【c5】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀雄 :
FPGA互连资源中允许缺陷/故障的开关块设计。 离散傅立叶变换 2000 : 134-142
1990 – 1999
1999 【c4】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀夫 :
测试FPGA的逻辑单元和互连资源。 亚洲测试研讨会 1999 : 369-374 【c3】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 佐藤·卡内科(Satoshi Kaneko) , 伊藤秀夫 :
通过移动配置数据实现缺陷和容错FPGA。 DFT(干膜厚度) 1999 : 377-385 【c2】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 大马美田 , 伊藤秀雄 :
FPGA的自动测试设计。 ETW公司 1999 : 152-157 【c1】 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀夫 :
FPGA的自动测试和诊断。 公共工程设计委员会 1999 : 45-
合著者索引
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