山崎康治
人员信息
优化列表
![笔记](https://dblp.uni-trier.de/img/note-mark.dark.12x12.png)
2020年-今天
2023 [j8] Hiroyuki Uzawa先生 , 吉田修平 , Yukou Iinuma公司 , Hatta佐木 , 小林大辅 , Yuya Omori先生 , Yusuke Horishita公司 , Ken Nakamura(中村) , 水池高田 , 哈桑·图拉巴利 , 科尤·尼塔 , 山崎康治 , Kimikazu Sano公司 :
边缘/终端目标检测AI推理方案的高清技术。 IEICE电子。 快递 20 ( 13 ) : 20232002 ( 2023 ) [公元20年] 大田Natsuki Ota , 细川敏诺里 , 山崎康治 , 山内友加里 , Masayuki Arai公司 :
一种使用人工神经网络和故障检测信息的缺陷类型估计方法。 DFT(干膜厚度) 2023 : 1-6 2021 [c19] 藤波花里 , Tomoko Naganuma公司 , Yushin Shinoda公司 , 山崎康治 , 小池信介 :
尝试使用加速度计识别亚洲黑熊的行为。 基础知识 2021 : 57-79 2020 [j7] 尤塔育空 , 山崎康治 , 科尤·尼塔 :
基于CPU-FPGA体系结构的服务功能链实时图像处理。 IEICE运输。 Commun公司。 103-B ( 1 ) : 11-19 ( 2020 )
2010 – 2019
2018 [第18条] 山崎康治 , 尤塔·尤肯 , 吉田修平 , 萨基·哈塔 , Yusuke Sekihara公司 , Shoko Ohteru公司 , 川村通崎 , Hatano高弘 , 科尤·尼塔 , 宫崎骏彦 :
使用FPGA哈希管道清理高稳定软件数据平面的流缓存。 高性能SR 2018 : 1-6 [第17条] 尤塔育空 , 山崎康治 , 科尤·尼塔 :
视频服务功能链与实时数据包重排序电路。 国际会计准则委员会 2018 : 1-5 2017 [第16条] 细川敏诺里 , Hideyuki Takano公司 , 山崎浩 , 山崎康治 :
单一通用逻辑故障模型的诊断故障仿真方法。 公共工程设计委员会 2017 : 217-218 2015 [第15条] 山崎康治 , 中岛义弘 , Hatano高弘 , 宫崎明彦 :
Lagopus FPGA-用于高性能软件SDN交换机的可重新编程数据平面。 热芯片研讨会 2015 : 1 2014 [c14] Satoshi Sakurai先生 , 山崎康治 , Ushiki先生 , 岩田富史 :
使用带θ型探针移液管的扫描离子电导显微镜开发单细胞电穿孔方法。 MHS公司 2014 : 1-5 [第13条] 山崎晃二 , 大阪武史 , 靖国神社 , Shoko Ohteru公司 , 宫崎骏彦 :
使用透明卸载体系结构加速SDN/NFV。 国家统计局 2014 2013 [j6] 靖国神社 , 大特昭子 , 伊藤靖国 , 山崎康治 , Yusuke Sekihara公司 , 青木隆 , Masami Urano公司 , 柴田聪一 :
200-Gbps数据包转发LSI的新电源管理技术中的可靠程序。 IEICE电子。 快递 10 ( 11 ) : 20130231 ( 2013 ) [第12条] 山崎康治 , Tsutsumi Toshiyuki , 高桥洋 , Higami吉野 , 平野洋一 , Masaki Hashizume先生 , Kewal K.Saluja公司 :
利用小延迟故障模拟诊断电阻开路故障。 亚洲测试研讨会 2013 : 79-84 2011 [第11条] 山崎康治 , 濑原裕介 , 青木隆 , 细谷英一 , 小泽明 :
减少具有高分支覆盖率的系统级测试向量的启发式算法。 国际会计准则委员会 2011 : 1475-1478 2010 [第10条] 吉村正史 , 小川浩史 , 细川俊一 , 山崎康治 :
使用多周期捕获测试生成方法评估过渡不稳定故障。 DDECS公司 2010 : 273-276
2000 – 2009
2009 【c9】 高桥洋 , Higami吉野 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , 山崎康治 , 津津俊之(Toshiyuki Tsutsumi) , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 桥久美正树 :
考虑相邻线路的开放性故障的新一类测试。 亚洲测试研讨会 2009 : 301-306 【c8】 山崎康治 , 津津俊之(Toshiyuki Tsutsumi) , 高桥洋 , Higami吉野 , Takashi Aikyo先生 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 :
一种提高开放式故障诊断质量的新方法。 超大型积体电路设计 2009 : 85-90 【c7】 Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 , 津津俊之(Toshiyuki Tsutsumi) , 山崎康治 , Takashi Aikyo先生 , Higami吉信 , 高桥洋 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) :
90nm集成电路中考虑相邻信号线的开放故障的故障影响。 超大型积体电路设计 2009 : 91-96 2008 [j5] 山崎康治 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) :
根据未完全识别的通过/失败信息定位开路故障的方法。 IEICE运输。 信息系统。 91天 ( 三 ) : 661-666 ( 2008 ) 【j4】 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , 高桥洋 , Higami吉野 , Takashi Aikyo先生 , 山崎康治 :
利用通过/失败信息对多个故障模型进行故障诊断。 IEICE运输。 信息系统。 91天 ( 三 ) : 675-682 ( 2008 ) [j3] 高桥洋 , Higami吉野 , Kadoyama树平 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , 山崎康治 , Takashi Aikyo先生 , 佐藤雅雄 :
多故障的事后故障诊断。 IEICE运输。 信息系统。 91天 ( 三 ) : 771-775 ( 2008 ) 2007 【c6】 高桥洋 , Higami吉野 , Shuhei Kadoyama公司 , Takashi Aikyo先生 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , 山崎康治 , 津津俊之(Toshiyuki Tsutsumi) , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , Masaki Hashizume先生 :
考虑相邻线路的开放断层建模和诊断线索。 自动转换开关 2007 : 39-44 2006 【c5】 山崎康治 , 高松裕三 :
基于扇出的故障诊断,针对通过/失败信息的开放故障。 自动转换开关 2006 : 349-353 【c4】 高桥洋 , Shuhei Kadoyama公司 , Higami吉野 , 高松裕三(Yuzo Takamatsu) , 山崎康治 , Takashi Aikyo先生 , 佐藤雅雄 :
多故障的有效事后故障诊断。 DFT(干膜厚度) 2006 : 401-109
1990 – 1999
1999 【c3】 山田泰彦 , Toshinori Kotake公司 , 高桥洋 , 山崎康治 :
用无故障硬件重置识别顺序PLA中的冗余交叉点故障。 亚洲测试研讨会 1999 : 269-274 1997 【c2】 山崎晃二 , 山田泰彦 :
一种诊断部分可观测时序电路中逻辑故障的方法。 亚洲测试研讨会 1997 : 168-173 1995 [注2] 山崎康治 , 山田泰彦 :
CMOS组合电路的单桥故障定位技术。 IEICE运输。 信息系统。 78天 ( 7 ) : 817-821 ( 1995 ) 【c1】 山田泰彦 , 山崎康治 , 爱德华·麦克卢斯基 :
一种定位组合电路中网关级故障的简单技术。 亚洲测试研讨会 1995 : 65-70 1991 [j1] 山田泰彦 , 山崎康治 :
组合电路中单桥故障的诊断方法。 系统。 计算。 日本。 22 ( 9 ) : 43-51 ( 1991 )
合著者索引
![](https://dblp.uni-trier.de/img/cog.dark.24x24.png)