微电子可靠性，第82卷
第82卷，2018年3月
克里斯蒂安·施伦德 , 卡贾·普什卡尔斯基（Katja Puschkarsky） 
, 冈纳尔·安德烈亚斯·罗特 , 沃尔夫冈·古斯汀 , 汉斯·赖辛格 :
NBTI：实验研究、物理建模、电路老化模拟和验证。 1-10 S.尼拉马尼 , P.奇特拉 , V.N.Ramakrishnan（罗马克里希南） :
基于亚20nm双栅反转和无结FinFET的6T-SRAM电路的拓扑变化及其SEU辐射性能。 11-19 渡边和树 , 吉哈鲁·卡里亚 , Naoyuki Yajima公司 , Kizuku Obinata公司 , 吉崎广岛 , 菊池顺一 , 松井明子 , 清水浩 :
通孔用电镀铜薄膜的低周疲劳试验和热疲劳寿命预测。 20-27 达尼杰尔·丹科维奇 , 伊维卡狂热症 , 阿内塔·普里季奇 , 沃伊坎·达维多维奇 , 佐兰·普里吉奇 , 斯内扎娜·格卢波维奇 , 斯涅扎娜·乔里克·韦利科维奇 , 阿尔伯娜·帕斯卡列娃 , D.斯帕索夫 , 尼诺斯拉夫·斯托贾迪诺维奇 :
P沟道功率VDMOSFET中的脉冲NBTI综述。 28-36 贾云鹏 , 林振华 , 胡东青 , 于武 , 彭丽 , 刘广海 :
显微拉曼光谱用于SiC JBS二极管ESD失效机理的晶体结构分析。 37-41 史蒂芬·M·雷米 , 切坦·普拉萨德 , A.拉赫曼 :
BTI可靠性的技术扩展影响。 42-50 Bing Gao公司 , 范扬 , 陈敏友 , 陈一高 , 魏来 , 刘超（Chao Liu） :
考虑焊料疲劳损伤反馈回路的IGBT模块热寿命估算方法。 51-61 克莱门斯·奥斯特马耶 , 彼得·拉格 , M.雷纳 , 迪奥尼兹·波加尼 :
III-N/电介质界面偏压温度不稳定性综述。 62-83 朱利安·马尼根 , 丽莎·米特休伯 , Jördis Rosc公司 , 弗兰兹·施兰克 , 斯特凡·霍思 , 马蒂亚斯·赫特 , 斯特凡·德弗雷格 , 埃尔克·克拉克 :
在电源循环条件下对翻盖LED模块进行参数驱动监测。 84-89 王龙军（Longjun Wang） , 徐佳友 , 王刚（Gang Wang） , 张征 :
MMC-HVDC应用IGBT模块的寿命估算。 90-99 马可·安杰尔科维奇 , 尔斯蒂奇 , 罗尔夫·克莱默 :
CMOS脉冲拉伸电路的操作和SET鲁棒性研究。 100-112 王晶 , 蔡一喜 , 李晓华 , 石云飞 , 亚娇宝 , 王军（Jun Wang） , 云溪石 :
离子风作用下LED车灯光热相关特性的实验研究。 113-123 杨建群 , 李兴基 , 刘朝明 , 丹尼尔·弗利特伍德 :
电离和位移损伤对少子寿命的影响。 124-129 李兴基 , 杨建群 , 刘朝明 , 白刚 , 罗文波 , 李鹏伟 :
不同能量的联合质子辐照引起的NPN晶体管的协同效应。 130-135 H.康塞尔·古德拉 , 泥鳅 , 桑基亚·莫汉蒂 , Morten Stendahl Jellesen公司 , 杰斯珀·亨利·哈特尔 , 拉詹·安巴特 :
通过RC建模和可靠性预测，暴露于不同地理位置的电子外壳中的湿度累积。 136-146 张荣生 , 李一笑 , 李杰（音译） , 曹雪冰 , 齐春华 , 李嘉强 , 王明江 :
基于SRAM的FPGA的多SEU快速故障注入平台。 147-152 Mehran Gholipour Shahraki公司 , 赛义德·戈尔巴纳利 :
温度和氧空位对铁电BaTiO中扩散系数和离子电导率的影响 三 纳米线； 分子动力学研究。 153-158 Olarewaju Mubashiru Lawal公司 , 刘舒欢 , 卓奇丽 , 阿齐尔·侯赛因 :
60 BJT中钴γ辐射总电离剂量与传导电磁干扰研究。 159-164 彼得罗·扎查利亚兹（Piotr Zachariasz） , 阿加塔·斯瓦雷克 , 巴拉兹·伊利斯 , 扬·祖克罗夫斯基 , 塔马斯·赫托尼 , Krzysztof Witek公司 :
富锡焊料合金中β¦Β→¦Βα相变的穆斯堡尔研究。 165-170 巴赫蒂亚尔·阿里 , 穆赫德·法祖尔·穆赫德·萨布里 , 苏哈娜·宾蒂·穆德说 , Nazatul Liana Sukiman公司 , 伊斯瓦迪·豪哈里 , 穆罕默德·侯赛因·马哈达维法德 :
添加Fe和Bi的Sn-1Ag-0.5Cu钎料合金在高温环境下的组织和拉伸性能。 171-178 黄大荣 , 兰彦科 , 朱晓燕 , 赵玲（Ling Zhao） , 波咪 :
基于改进隐马尔可夫模型的城市轨道交通电机驱动系统故障诊断。 179-189 K.A.Karthigeyan公司 , Premanand Venkatesh Chandramani公司 :
二型三阶CPLL中DR-VCO辐射特性的研究与分析。 190-196 岳照 , 徐国义 , 孙云龙 , Boan Pan公司 , 李婷 :
便携式高密度NIRS绝对测量成像仪，用于检测疲劳驾驶时的前额叶活动。 197-203 金丽高 , 陈德晨（Tei-Chen Chen） :
不同温度和表面光洁度下Sn-1Ag-0.5Cu焊点的钢球冲击响应。 204-212 卡门·马丁 , 亚历山大·米科尔 , 弗朗索瓦·佩雷斯 :
测试参数、试样类型和使用配置对识别Sn/Ag焊料行为规律的重要性。 213-223
