电子测试杂志，第7卷
第7卷，编号1-2，1995年8月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑-局部扫描设计专刊。 5-6 约翰内斯·斯坦斯马 , 弗兰基·卡托 , 雨果·德曼 :
寄存器传输级别的部分扫描和符号测试。 7-23 拉杰什·古普塔 , 梅尔文·布鲁尔 :
寄存器传输级电路的部分扫描设计。 25-46 基·苏普·金 , 查尔斯·基姆 :
利用经验可测试性选择部分扫描触发器。 47-59 Prashant S.Parikh公司 , 米隆·阿布拉莫维奇 :
基于可测试性的部分扫描分析。 61-70 塔蒂亚娜·奥伦斯坦 , 兹维·科哈维 , 伊里斯·波梅兰兹 :
有向图中循环中断的一种优化算法。 71-81 斯利马特·查克拉达尔 , 阿伦·巴拉克里希南 , 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
选择部分扫描触发器的精确算法。 83-93 上峨台 , 德巴希斯·巴塔查里亚 :
简化ATPG的三阶段部分扫描设计方法。 95-104 苏吉特·戴伊 , 斯利马特·查克拉达尔 :
通过重新定位触发器设计可测试时序电路。 105-114 Higami吉野 , 川原诚司 , Kozo Kinoshita公司 :
基于简化扫描移位方法的部分扫描设计和测试序列生成。 115-124 林智仁 , Yervant Zorian公司 , Sudipta Bhawmik公司 :
集成部分扫描和内置自检。 125-137
第7卷第3期，1995年12月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 143 安德烈亚·博尼 , 乔瓦尼·齐奥尔波利 , G.佛朗哥 , M.奥斯塔科利 , S.马佐莱尼 :
通过电气建模和模糊算法的应用对R-2R D/A转换器进行短期测试。 145-155 安坎·普拉马尼克 , Sudhakar M.Reddy公司 :
针对延迟故障的高效多路径传播测试。 157-172 哈里·亨斯特 , 罗尔夫·德雷克斯勒 
, 伯恩德·贝克尔 :
关于局部变换和路径延迟故障可测试性。 173-191 T.拉朱·达马拉 , 查尔斯·斯特劳德 , 阿维纳什·萨塔耶 :
通过特征分析进行多重错误检测和识别。 193-207 张树建（Shujian Zhang） , 罗德·伯恩 , 乔恩·穆齐奥 , D.迈克尔·米勒 :
线性混合元胞自动机和LFSR作为序列故障的内置自检生成器的定量分析。 209-221 克劳迪奥·科斯蒂 , 米凯拉·塞拉 , 多纳泰拉·西乌托 :
一种新的时序电路DFT方法。 223-240 Leendert M.Huisman先生 :
产量波动和缺陷模型。 241-254 V.C.普拉萨德 , N.Sarat Chandra巴布 :
模拟电路故障诊断中故障字典的最小测试节点集。 255-258
