电子测试杂志，第31卷
第31卷第1期，2015年2月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 1-2 新编辑——2015年。 3-6 2014年JETTA审核人。 7-8 测试技术新闻稿。 9-10 谢恩·凯利 
， 张学慧 ， 穆罕默德·特赫拉尼普尔 ， 安德鲁·费拉乌洛 :
在ASIC设计中使用On-chip传感器检测硬件木马。 11-26 刘铁桥 ， 周英波 ， 刘毅（音） ， 朔才 :
基于Harzard的ATPG用于提高延迟测试质量。 27-34 于坤高 ， 张腾腾 ， 蓬吉·博克雷尔 ， 斯瓦蒂查克拉波蒂 ， D.M.H.Walker博士 :
通过嵌入式存储器进行伪功能路径延迟测试。 35-42 海鹰苑 ， 郭坤 ， 孙迅 ， 嘉平梅 ， 宋红英 :
基于不关心比特的二维调整和基于汉明距离的二维重排序的高效BIST TPG方法。 43-52 赵东生 ， 何玉柱 :
一种新的模拟电路测试点选择方法。 53-66 B.M.法里德·拉赫曼 ， 余家鹏 ， 王腾兴 ， 田霞 ， 王国安 :
电压和电流同时调谐高频测量的在线校准技术。 67-73 穆罕默德·梅特瓦利 ， Nicholai L'Esperance公司 ， 田霞 :
测试连续波雷达的压缩采样耦合OFDM技术。 75-83 尼古拉斯·佐 ， 德贝什·巴塔 ， 巴里·穆德雷 ， 托马斯·穆恩 ， Xian Wang（王贤） ， Hyun Woo Choi先生 ， 阿比吉特·查特吉 :
使用异步多速率采样的低成本稀疏多频带信号表征：算法和硬件。 85-98 张腾腾 ， 于坤高 ， D.M.H.Walker博士 :
用于了解电源噪声定时敏感性的模式生成。 99-106 斯特凡·R·沃克 ， 奥马尔·埃斯卡洛纳 ， 科林·特纳 :
在测试程序开发中使用先进的工程方法提高半导体可靠性。 107-117 俞文欣 ， 何一刚 :
通过灵敏度计算进行模拟电路故障诊断。 119-122
第31卷第2期，2015年4月
Vishwani D.阿格拉瓦尔 :
编辑。 123 测试技术新闻稿。 第125页至第126页 李勋成 ， 雅各布·A·亚伯拉罕 :
使用谐波失真校正的8位延迟线ADC数字校准。 127-138 Felipe Restrepo-Calle公司 ， 塞尔吉奥·昆卡-安西 ， 安东尼奥·马丁内斯-阿尔瓦雷斯 ， 爱德华多·切勒 ， 费尔南达·利马·卡斯滕斯密特 :
嵌入式微处理器可靠性评估中寄存器文件关键性的应用分析。 139-150 约格·贝伦德 ， 琼斯-莱特宁 ， 亚历山大·格伦哈奇 ， 尤尔根·鲁夫 ， 托马斯·克罗夫 ， 沃尔夫冈·罗森斯蒂尔 :
嵌入式软件的可扩展和优化混合验证。 151-166 尼古拉·波比里 ， 佛朗哥·富米 ， 瓦莱里奥·瓜尼埃里 ， 格拉齐亚诺·普拉瓦德利 ， 弗朗西斯科·斯特凡尼 ， 塔拉·加森波里 ， 米歇尔·洛拉 ， Giovanni Auditore公司 ， 米雷拉·尼格罗·马西加利亚 :
重用RTL断言检查器验证SystemC TLM模型。 167-180 瑞安·H·M·黄 ， 丹尼斯·K·H·徐 ， 查尔斯·H·P·温 :
用于安全关键CMOS设计的确定辐射加固技术。 181-192 梁晨 ， 莫伊塔巴·易卜拉希米 ， 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 :
RTL控制路径中寄存器软错误漏洞的形式量化。 193-206 伊戈尔·加德尔哈·佩雷拉 ， 莱昂纳多·阿尔夫斯·迪亚斯 ， 克莱尼尔森·普罗塔西奥·德苏扎 :
一种用于FPGA全局互连测试和诊断的基于移位寄存器的BIST体系结构。 207-215 Xuan Xie（宣泄） ， 李西峰 ， 东街壁 ， 周启忠 ， 谢三山 ， 谢永乐 :
基于Rényi熵的模拟电路软故障诊断。 217-224
第31卷第3期，2015年6月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 225 测试技术时事通讯。 227-228 阿卜杜勒加尼·伦比 ， 杰克·德辛 :
电路互连的非接触测试。 229-253 卡洛斯·伊万·卡斯特罗·马尔克斯 ， 马吕斯·斯特拉姆 ， 江洲王 :
使用高级功能和协议规范模型验证RTL设计的统一序列等价性检查方法。 255-273 马可·安杰尔科维奇 ， 弗拉基米尔·彼得罗维奇 ， 佐兰·斯塔缅科维奇 ， 戈兰·S·里斯蒂克 ， 戈兰·乔瓦诺维奇 :
片上单事件闭锁保护开关中单事件瞬态的电路级模拟。 275-289 李旺 ， 郭连平 ， 姜军（Jun Jiang） ， 杜玉秋 :
一种基于Hilbert-变换的时间间隔模数转换器定时误差估计与校正方法。 291-299 法纳兹·福托瓦蒂哈 ， 巴哈勒·纳拉吉 ， 法特梅赫·塔瓦科利 ， 马赫迪亚尔·加迪里 :
使用边界扫描模拟拓扑对测试影响的新方法。 301-310 苏哈米塔·穆克吉 ， Tuhina Samanta公司 :
数字微流控生物芯片的分布式类扫描故障检测与测试优化。 311-319 德贝什·库马尔·达斯 ， 藤原秀夫 :
又一类具有组合测试生成复杂性的时序电路。 321-327 余晓鹏 ， 荣谦天 ， 徐文林 ， 郑实 :
一种用于电荷电容测量电路的新型片上信号发生器。 329-333
2015年8月第31卷第4期
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 335 测试技术新闻稿。 337-338 阿卜杜勒加尼·伦比 ， 杰克·德辛 :
非接触测试在带有BGA和开放式插座的PCB上的应用。 339-347 黄正峰 ， 梁华国 ， Sybill Hellebrand公司 :
一种高性能SEU容错锁存器。 349-359 阿方索·马丁内斯·克鲁斯 ， 里卡多·巴伦·费尔南德斯 ， 莫利纳·洛萨诺夫人 ， 马可·安东尼奥·拉米雷斯·萨利纳斯 ， 路易斯·阿方索·维拉·瓦尔加斯 :
通过紧凑二进制差分进化算法自动生成数字系统的功能测试。 361-380 阿萨纳西奥斯·迪马科斯 ， 哈拉兰波斯-G.D.Stratigopoulos ， 亚历山大·西里加里斯 ， 萨尔瓦多·米尔 ， 埃默里克·德·福柯 :
使用非侵入式变分软件传感器对65nm RF LNA进行参数内置测试。 381-394 王海滨 ， 刘瑞（Rui Liu） ， 李晨 ， 金顺碧 ， 穆龙里 ， 李元庆 :
一种新型内嵌式电流传感器，用于N-WELL SET检测。 395-401 信杜·古纳塞卡尔 ， 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
求非周期时钟测试频率的最大功率算法。 403-410 亚历山大·西米诺夫斯基 ， 拉斐尔·加尔哈多·瓦兹 ， 奥达尔·莱利斯·冈卡雷斯（Odair Lelis Goncalez） ， 吉尔森·I·沃思 :
总电离剂量对带动态存储单元的大容量内置电流传感器的影响。 411-417 肯塔罗·加藤 ， 小林由太郎 ， 武士·楚乔（Takeshi Chujo） ， 王俊山 ， 恩施李 ， 李聪兵 ， 小林浩夫 :
勘误表：使用环形振荡器对TDC进行小芯片面积随机校准。 419
第31卷，编号5-6，2015年12月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 421-422 测试技术新闻稿。 423-424 2014年JETTA-TTTC最佳论文奖。 425 童玉霞 ， 王致皓 ， 郭春伟 ， 黄树玉 ， 宗良智 :
有效提高产量的性能退化公差分析和设计。 427至441 斯蒂芬·戴维·格里格诺 ， 佛罗伦萨阿扎伊斯 ， 劳伦特·拉托尔 ， 弗朗索瓦·列斐伏尔 :
使用数字ATE对模拟/中频信号进行相位噪声测试：一种扩展测量范围的新后处理算法。 443-459年 胡泽文 ， 肖明清 ， 张磊（Lei Zhang） ， 宋海芳 ， 赵阳 :
模拟滤波器的早期故障诊断和剩余使用寿命预测。 461-477 苏拉杰·辛迪亚 ， 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
模拟和射频规范测试的缺陷水平约束优化。 479-489年 米查尔·塔德乌西维奇 ， 安德烈·库钦斯基 ， 斯坦尼斯劳·哈尔加斯 :
可能存在多个工作点的模拟非线性电路中的点缺陷诊断。 491-502 尼玛·阿盖伊 ， 彭泽波 ， 佩特鲁·埃利斯 :
一种基于测试排序的三维堆叠集成电路温度循环加速技术。 503-523 塞泽·戈伦 ， Cemil Cem Guursoy公司 ， 阿卜杜拉·伊尔迪兹 :
通过故障仿真和动态多故障注入加速逻辑锁定。 525-536 李元庆 ， 王海滨 ， 姚素英 ， 席燕 ， 高志远 ， 徐江涛 :
双节点翻转硬化插销电路。 537-548 陈玉怡 ， 黄俊朗 ， 郭台铭（Terry Kuo） ， 黄轩伦 :
基于FPGA的数据/定时格式化程序的设计与实现。 549-559 李湘丽 ， 李元庆 ， 王海滨 ， 刘瑞（Rui Liu） ， 吴琼 ， 米歇尔·纽顿 ， 袁马 ， 李晨 :
65nm技术中SRAM 6T比特单元软容错布局的仿真与实验评估。 561-568
