《电子测试杂志》第29卷
2013年2月第29卷第1期
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 1-2 《新编》，2013年。 三 2012年JETTA审核人。 5-6 测试技术新闻稿。 7-8 塞尔玛·埃利塔·科兰齐 , 韦斯利·克莱沃顿·盖兹·阿苏诺 
, Daniela de Freitas Guilhermino Trindade女士 , 卡洛斯·阿尔贝托·佐佐 , 西尔维娅·里贾娜·维吉利奥 :
评估测试软件产品线的不同策略。 9-24 维克托·马斯科夫 , 基里·巴里拉 , 帕维尔·西姆尔 :
应用Petri网对随机执行测试的多核处理器自测试建模。 25-34 方宝 , 柯鹏 , 马赫穆特·伊尔马兹 , 克里希南德·查克拉巴蒂 , 勒罗伊·温伯格 , 穆罕默德·特赫拉尼普尔 :
利用关键故障的选择有效地生成小延迟缺陷的模式。 35至48 Hyoung-Kook Kim先生 , Laung Terng王 , 吴玉良 , 文本·琼斯 :
异步FIFO中同步器的测试。 49-72 Sobeeh Almukhaizim公司 , 萨拉·布尼安 , 奥兹古尔·西纳诺格鲁 :
自适应功率约束动态性的可重构并发错误检测。 73-86 瓦西姆·曼苏尔 , 拉乌尔·贝拉斯科 :
VHDL处理器中的SEU故障注入：案例研究。 87-94 韩寒 , 王厚军 , 田树林 , Na Zhang（张娜） :
基于改进马氏距离的模拟电路故障诊断新方法。 95-102 奥兹古尔·西纳诺格鲁 , 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
消除扫描的计时惩罚。 103-114 李西峰 , 谢永乐 :
用交叉熵方法检测模拟电路故障。 115-120
第29卷第2期，2013年4月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 121 测试技术新闻稿。 123-124 迪米特里斯·吉佐普洛斯 , 哈姆迪奥伊说 , 汉斯·曼哈夫（Hans A.R.Manhaeve） :
客座编辑-纳米级可制造和可靠多核架构特刊（MEDIAN）。 125-126 奥利维尔·赫隆 , 克莱门特·贝尔托里尼 , 奇亚拉·桑迪奥尼吉 , 尼古拉斯·文特鲁 , 弗朗索瓦·马克 :
高水平HCI诱导IC计时变化的模拟。 127-141 梁晨 , 莫伊塔巴·易卜拉希米 , 梅迪·巴拉达兰·塔胡里 :
CEP：分层软错误分析的相关错误传播。 143-158 克里斯蒂亚娜·博基尼 , 马泰奥·卡米蒂亚 , 安东尼奥·米勒 :
多核/多核系统中的自适应容错。 159-175年 伊斯梅尔·阿克图克 , 奥兹坎·奥兹图尔克 :
可靠性感知的异构3D芯片多处理器设计。 177-184 纳塔尔贾·科尔 , 沃尔夫冈·罗森斯蒂尔 :
FSM中的电路级并发错误检测。 185-192 阿弥陀佛大士 , 让·达罗尔特 , Santosh Ghosh公司 , 斯特凡·塞斯 , 索菲·杜普伊斯 , 乔治·迪·纳塔尔 , Marie-Lise Flottes公司 , 布鲁诺·鲁泽尔 , 英格丽德·维尔巴韦德 :
使用Schnorr协议实现安全的JTAG。 193-209 萨尔马·贝加奥伊 , A.韦克斯汀 , 雷吉斯·勒沃格尔 :
健壮的基于软件的嵌入式系统编译选项的详细分析。 211-222 埃德加·莱昂纳多·罗梅罗 , 马吕斯·斯特拉姆 , 江洲王 :
操作训练集以改进数据挖掘覆盖驱动验证。 223-236 阿肖克·卡维塔马尼 , Venugopal马尼坎丹 , 南军达潘·德瓦拉扬 :
基于网络参数和神经网络的模拟电路软故障分类。 237-240 卡纳德·查克拉波蒂 , 詹姆斯·凯利 , 布莱恩·埃文斯 :
新颖的自定时流水线时钟扫描体系结构。 241-247 张志超 , 易任 , 李晨 , 尼尔森·J·加斯帕德 , 亚瑟·F·维图尔斯基 , W.蒂莫西·霍尔曼 , 巴拉特·L·布瓦 , 史洁文 , 拉马斯瓦米·萨米奈肯 :
一种用于检测单事件瞬态物理位置的内置式电压传感器。 249-253
第29卷第3期，2013年6月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 255 测试技术新闻稿。 257 Prashant D.Joshi公司 , 马西莫·维奥兰特 :
客座编辑。 259-260 Geunho Cho先生 , 法布里奇奥·隆巴迪 :
通过门宽调整的未沉积碳纳米管CNTFET的延迟。 261-273年 《艺文石》 , 詹妮弗·德沃拉克 :
一种模拟退火启发的测试优化方法，用于增强对高度关键故障和缺陷的检测。 275-288 朱利奥·塞萨尔·瓦兹奎兹 , Víctor H.Champac公司 , 豪尔赫·塞米昂 , 伊莎贝尔·C·特谢拉 , 马塞利诺·桑托斯 , 乔·保罗·特谢拉 :
老化传感器插入的过程变化感知统计分析框架。 289-299 恩里科·科斯特纳罗 , 丹·亚历山大斯库 , 卡德尔·贝尔哈达德 , 迈克尔·尼古拉迪斯 :
高度复杂设计的单事件瞬态分析实用方法。 301-315 斯列尼瓦斯·甘加达尔 , 斯皮罗斯·特拉古达斯 :
诊断时序电路中集合的概率方法。 317-330 罗德里戈·波萨马·巴斯托斯 , 乔治·迪纳塔莱 , Marie-Lise Flottes公司 , 冯璐 , 布鲁诺·鲁泽尔 :
组合逻辑中一种新的短时到长时瞬态故障恢复方案。 331-340 莫妮卡·奥尔德利吉 , 法比奥·卡西尼 , 塞尔吉奥·达安吉洛 , 阿莱西奥·格拉维纳 , 华伦天奴自由党 , 马塞洛·曼奇尼 , 保罗·穆萨齐 , 桑德罗·帕斯托尔 , 马特奥·萨西 , 加布里埃尔·索伦蒂 :
SEU对基于SRAM的FPGA可编程互连影响的初步研究。 341-350 纳格梅·卡里米 , 米歇尔·马尼亚塔科斯 , Chandrasekharan Tirumurti公司 , Yiorgos Makris公司 :
现代微处理器性能故障的影响。 351-366 玛蒂尔德·苏卡罗斯 , 杰西·克莱迪埃 , Cécile Canovas-Dumas公司 , 菲利普·埃尔巴兹·文森特 :
嵌入式处理器中真随机数发生器的故障分析与评估。 367-381 蒂埃里·博诺 , 迈克尔·尼古拉迪斯 , 纳塞尔·伊丁·泽加诺 :
在嵌入式存储器中使用无速度惩罚的纠错码：算法、实现和案例研究。 383-400 丹尼尔·罗西 , 马丁·奥马尼亚 , G.加拉莫内 , 塞西莉亚·米特拉 , 阿比吉特·贾斯 , 拉杰什·加利万奇 :
高性能微处理器控制逻辑的低成本并发错误检测策略及其在指令译码器中的应用。 401-413 福岛优助 , 福石正郎（Masaru Fukushi） , 伊库科·Eguchi Yairi :
一种适用于片上二维不规则网格网络的基于区域的容错路由算法。 415-429 哈立德·拉蒂夫 , 阿米尔·穆罕默德·拉赫马尼 , 埃塞俄比亚尼库西 , 蒂贝里乌·塞塞莱亚努 , 马丁·拉德茨基 , 汉努·腾胡宁 :
部分虚拟信道共享：增强片上网络资源管理和容错的通用方法。 431-452
第29卷第4期，2013年8月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 453 测试技术新闻稿。 455-456 克劳德·蒂博特 , 亚辛·哈里里 , 赛义德·拉斐·哈桑 , 克里斯蒂尔·霍贝卡 , 伊冯·萨瓦里亚 , 伊夫·奥德特 , 法蒂玛·扎赫拉·塔齐 :
基于SRAM的FPGA设计中基于库的早期软错误敏感性分析技术。 457-471 苏拉杰·辛迪亚 , Vishwani D.阿格拉瓦尔 :
阵列处理器中神经网络引导的空间故障恢复。 473-483 穆罕默德·侯赛因·内沙武里 , 泽利科·齐利奇 :
一种容错分层片上网络路由器体系结构。 485-497 尼玛·阿盖伊 , 彭泽波 , 佩特鲁·埃利斯 :
过程变量和温度感知SoC测试调度技术。 499-520 拉尔斯·斯科尔 , 尤利安娜·巴西瓦罗夫 , 杨浩石 , 洛塔尔·蒂勒 :
MPSoC上实时应用的热软件分配的有效最坏情况温度评估。 521-535 拉赫贝·尼亚拉基·阿斯利 , 赛义德·希林扎德 :
用于可靠电路设计的高效时间冗余硬化锁存。 537-544 卡祖特鲁·南巴 , Katagiri高石 , 伊藤秀雄 :
定时错误检测双边缘触发触发器。 545-554 永财敖 , 施一冰 , 张伟（音译） , 李彦军 :
正态变量比值的近似计算及其在模拟电路故障诊断中的应用。 555-565 李敏（音） , 未名县 , 冰龙 , 王厚军 :
基于使用频率特征的粒子滤波器的模拟滤波器的预测。 567-584 吴铁彬 , 刘恒珠 , 刘鹏霞 , 郭东胜 , 海明孙 :
一种基于多级解码逻辑的低成本输入向量监测并发在线BIST方案。 585-600 瓦伦汀·吉尔曼 , 塞缪尔·伊凡 , 扬尼克·博霍姆 :
基于最大化纠错码的存储器可靠性改进。 601-608 易任 , 舒婷石 , 李晨 , 王海滨 , L.-J.高 , 郭刚 , 史洁文 , 理人黄子骅 , N.W.van Vonno公司 :
DC/DC PWM控制器上重离子和激光测试的相关性。 609-616
第29卷第5期，2013年10月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 617 测试技术新闻稿。 619-620 山迪雷 , 杰·巴德拉 , Magdy S.Abadir公司 , Li-C.王 :
客座编辑：未来微处理器和SoC设计的测试和验证挑战。 621-623年 李龙珍 :
观测定向ATPG和扫描链禁用以降低捕获功率。 625-634 马塞洛·索萨 , 阿尔珀·森 :
LLVMVF：多核软件验证的通用方法。 635-646 尼古拉·邦比耶里 , 埃马德·塞缪尔·马尔基·埃贝德 , 佛朗哥·富米 , 米歇尔·洛拉 :
关于将异构IP重用到SysML模型中以进行集成验证。 647-667 刘玲怡 , 肖巴·瓦苏德万 :
从事务级模型自动生成系统级断言。 669-684 高燕燕 , 西丽 :
一种基于语义的系统TLM设计自动验证翻译方法。 685-695 土耳其维吾尔族 , 塞巴斯蒂安·萨特勒 :
部分定义异步反馈数字电路的一种新形式主义。 697-714 库苏姆·拉塔 , 苏比尔·K·罗伊 :
使用SPICE电路仿真轨迹对模拟和混合信号设计进行形式验证。 715-740
第29卷第6期，2013年12月
维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
编辑。 741-742 测试技术新闻稿。 743-744 苏克什瓦尔·坎南 , Kaushal Kannan公司 , 布鲁斯·C·金 , 弗里德里希·塔恩兹勒 , 理查德·安特利 , 肯·穆什吉安（Ken Moushegian） , 肯尼思·巴特勒 , 道格·米里兹 :
基于物理的高压LDMOS低成本测试技术。 745-762 努尔·纳耶姆 , 杰奎琳·赖斯 :
可逆逻辑中的在线可测试方法。 763-778 克里斯蒂亚娜·博基尼 , 安东尼奥·迈勒 , 奇亚拉·桑迪奥尼吉 :
将容错系统自治到基于SRAM的FPGA平台上。 779-793 斯特凡诺斯·瓦拉迪马斯 , Yiorgos Tsiatouhas公司 , 安吉拉·阿拉波亚尼 , Petros Xarchakos公司 :
基于触发器的磁芯设计中的有效定时误差容限。 795-804 亚历山大·瓦沃西斯 , 安德烈亚斯·阿波斯托拉基斯 , 米哈利斯·普萨拉基斯 :
基于运行时部分重构的FPGA嵌入式处理器容错方法。 805-823 Felipe Restrepo-Calle公司 , 安东尼奥·马丁内斯-阿尔瓦雷斯 , 塞尔吉奥·昆卡·阿森西 , 安东尼奥·希梅诺·莫雷尼拉 :
选择性SWIFT-R——一种基于软件的灵活技术，用于低成本嵌入式系统中的软错误缓解。 825-838 杰斐逊·P·科佩 , 小埃利亚斯·杜阿尔特。 , 路易斯·博纳 :
MoDiVHA：分布式测试分配的分层策略。 839-847 吴铁彬 , 刘恒珠 , 刘鹏霞 :
基于块合并和八编码的SoC高效测试压缩技术。 849-859 李坤霞 , 穆罕默德·乌默·法鲁克 , 伊恩·贝尔 , 弗尼祖·阿兹马迪·侯赛因 , 阿米尔·赛义德·马利克 :
高级建模和高级故障建模的自动模型生成技术综述与评估。 861-877 Satoshi Uemori先生 , 石井Masamichi Ishii , 小林浩夫 , Daiki Hirabayashi公司 , 荒川尤塔 , 尤塔多伊 , 小林治 , 松浦达辅 , Kiichi Niitsu先生 , 柳野裕二 , Tatsuhiro Gake先生 , 山口高弘 , Nobukazu Takai先生 :
具有改进线性度的多比特Sigma-Delta TDC体系结构。 879-892年 田霞 , 罗悉特 , 蒂莫西·普拉特 , 穆斯塔法·斯拉马尼 :
使用OFDM技术的低成本、时效性多天线测试信号生成。 893-901年 什洛米·多列夫 , 谢尔盖·弗兰克尔 , 丹·塔米尔 , 弗拉基米尔·辛尼科夫 :
在算术和逻辑运算中保持汉明距离。 903-907
