第40届悉尼威立雅运输公司2022:美国加利福尼亚州圣地亚哥
第40届IEEE VLSI测试研讨会,VTS 2022,美国加利福尼亚州圣地亚哥,2022年4月25-27日。 电气与电子工程师协会 2021 ,国际标准图书编号 978-1-6654-1060-1 萨希尔·沙阿 , 詹妮弗·布莱恩·克里斯滕 :
专题:使用浮栅校准ISFET中的不匹配。 1-4 博拉Bilgic , 苏莱·奥泽夫 :
使用轻质内置元件的模拟电路性能退化监测。 1-7 丹尼尔·古利克 , 尤娜·荣格 , Seunghyun Lee(李承宪) , 苏莱·奥泽夫 , 詹妮弗·布莱恩·克里斯滕 :
探索基于模型的被动生物机电植入物失效预测。 1-7 Vineet Pancholi公司 :
特别会议:测试多数据包的影响。 1-2 马赫穆特·伊尔马兹 , 巴凡·库马尔·达特拉·贾甘纳达 , 考希克·纳拉亚努 , Shantanu Sarangi公司 , 弗朗西斯科·达席尔瓦 , 乔·萨米恩托 , 斯姆巴特·托诺扬 , 阿什温·金塔鲁里 , 阿尼梅斯·哈雷 , 米林德·索纳瓦内 , 阿希什·库马尔 , 安妮莎·卡尔瓦 , 许书扬 , 杰耶什·潘迪 :
NVIDIA MATHS:通过高速链路访问测试数据的机制。 1-7 Sreejit Chakravarty公司 :
特别会议:呼吁标准化芯片互连测试。 1-3 拉希德·基布里亚 , 努斯拉特·法扎纳 , 法拉曼迪 , 马克·德赫拉尼普尔 :
FSMx:从扁平网表中提取有限状态机及其在安全方面的应用。 1-7 穆苏姆·埃米尔·阿维奇 , 苏莱·奥泽夫 , Y.B.切坦·库马尔 :
使用内置探测器进行快速射频失配校准。 1-7 马塞尔·梅尔滕 , 塞巴斯蒂安·胡恩 , 罗尔夫·德雷克斯勒 :
基于硬件的多目标优化算子进化算法在芯片瞬态故障检测中的应用。 1-7 德巴希·查特吉 , Parth拉提加拉 , 西德汉斯·多迪 , 查德·帕森斯 :
FIFO拓扑感知暂停,用于加速暂停回归的覆盖收敛。 1-7 巴拉·塔伦·内拉帕特拉 , 拉胡尔·辛哈尔 , 迈克尔·道布 , 佐兰·斯坦诺杰维奇 :
创新实践轨道:高速测试织物。 1 迪皮卡·尼埃西拉扬 , V.A.尼兰扬 , 理查德·威利斯 , 阿米特·纳哈尔 , D.韦伯斯特 , Yiorgos Makris公司 :
通过测试间相关性减少基于机器学习的过度杀伤。 1-7 桑卡兰·梅农 , 罗尔夫·库尼斯 :
专题讨论会:使用功能广泛的USB Type-C插座对计算系统进行封闭式底盘平台调试。 1-4 阿拉尼·辛哈 :
创新实践跟踪:无声数据错误。 1 克里斯托弗·穆奇 , 容信云(Jongsin Yun) , 马丁·凯姆 , Mehdi B.Tahoori公司 :
基于MBIST的STT-MRAM微调搜索测试时间缩短。 1-7 Ho-Chieh Hsu先生 , 程车路 , 王士伟 , 凯利·琼斯 , 吳凱強 , 芒果C.-T.Chao :
SLT故障零件分类规则生成。 1-7 大豆Tuhin Ahmed , Mehdi B.Tahoori公司 :
带有功能ATPG的容错神经形态计算用于制造后重新校准。 1-7 彭敏强 , 吴友发 , 李佳亮 , 亚历克斯·于 , 格里戈尔·查查利扬 , Costas Argyrides公司 , 维拉斯·斯里德哈兰 , Gurgen Harutyunyan公司 , Yervant Zorian公司 , 尼兰詹·穆克吉 :
创新实践跟踪:汽车业的下一步:在何处以及如何改进现场测试和提高SoC安全性。 1 克里斯·曼格尔斯多夫 , 马纳萨·马德瓦拉吉 , 萨尔瓦多·米尔 , 曼努埃尔·J·巴拉根 , 饭森大辅 , 中田隆树 , 片山Shogo Katayama , 小原加谷 , 赵玉洁 , 姜林伟 , 安娜·库瓦纳 , 肯塔罗·加藤 , 川端康美 , 小林浩夫 , 佐藤基诺 , 石田隆 , 冈本俊之 , 一川Tamotsu Ichikawa :
创新实践轨道:创新模拟电路测试技术。 1 潘仁建 , 辛莉(Xin Li) , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
集成系统协同训练的半监督根原因分析。 1-7 迈赫迪·萨迪 , 怡和 , 李燕京 , 马哈布布尔·阿拉姆 , 萨特维克·昆都 , Swaroop Ghosh公司 , 贾瓦德·巴赫拉米 , 纳格梅·卡里米 :
特别会议:关于传统和量子神经网络硬件的可靠性。 1-12 艾宾·严 , 钱奎奎 , 崔洁(音译) , 崔宁宁 , 黄正峰 , 温晓青(Xiaoqing Wen) , 帕特里克·吉拉德 :
用于航空航天应用的高可靠性低功耗RHBD翻转单元。 1-6 詹妮弗·哈斯勒 :
专题讨论会:大型可编程模拟系统的测试和表征。 1-5 费苏 , 斯蒂芬·克罗舍 , 安德烈亚·马特尤奇 , 邹宇文 :
创新实践轨道:硅遥测可靠性。 1 Shi-Xuan Zheng先生 , Chung-Yu Yeh先生 , 李国忠(Kuen-Jong Lee) , 陈旺 , 吴东成 , 马克·卡斯布 , 贾努斯·拉赫斯基 , Sudhakar M.Reddy公司 :
宽范围EDT输入/输出通道配置的测试模式计数的准确估计。 1-7 安东尼奥斯·帕夫利迪斯 , 埃里克·费恩 , Marie Minerve Louërat女士 , Haralampos-G.Stratigopoulos公司 :
模拟和混合信号IC中的运行时硬件特洛伊木马检测。 1-8 阿尔琼·乔杜里 , 乔蒂·塔卢克达尔 , 克里希南德·查克拉巴蒂 :
特别会议:AI加速器的故障严重性评估。 1-4 表扬O.Farayola , 艾萨克·布鲁斯 , 什拉文·K·查甘蒂 , 阿巴哈桑·谢赫 , 斯利瓦思·拉维 , 陈德刚(Degang Chen) :
半导体多站点测试中系统误差识别和校准的最小二乘法。 1-7 里卡多·坎托罗 , 弗朗西斯科·加劳 , 里卡多·马桑特 , 桑德罗·萨托尼 , 维伦德拉·辛格 , 马泰奥·桑扎·雷尔达 :
开发硅后调试硬件以提高软件测试库的故障覆盖率。 1-7 Juan-David Guerrero-Balaguera公司 , 乔西·罗德里格斯·康迪亚 , 马泰奥·桑扎·雷尔达 :
利用高级语言生成现场GPU测试软件测试库的新方法。 1-7 沙米克·昆都 , 苏瓦迪普·班纳吉 , 阿纳布·拉哈 , 卡纳德·巴苏 :
专题会议:深层神经网络硬件加速器的有效现场测试。 1-4 杰林·乔 , 尼兰詹·穆克吉 , 伊里斯·波梅兰兹 , 贾努斯·拉赫斯基 :
结构相似电路的快速测试生成。 1-7 马哈塔·马亚希尼亚 , 亚图萨·贾法里 , Mehdi B.Tahoori公司 :
新兴电阻存储器中可靠计算的电压调节。 1-7 阿米特·潘迪 , 布伦丹·塔利 , 阿比吉特·萨穆德拉 , 阿杰·纳加兰达尔 , 卡提基安·纳塔拉扬 , 拉胡尔·辛哈尔 :
使用基于功能协议的高速I/O的大规模SoC制造和系统内测试新技术。 1-7 刘成 , 真高 , 刘思廷(Siting Liu) , 雪飞宁 , 华为Li , 李晓伟 :
特别会议:容错深度学习:层次视角。 1-12 Sandeep Kumar Goel公司 , Sandeep Pendharkar公司 , 刘春生 :
创新实践轨道:3D IC和芯片测试。 1 阿拉尼·辛哈 :
创新实践轨道:下一代测试标准。 1 李明业 , 王方舟 , 德普·古普塔 :
RSFQ电路中路径延迟和静态故障的测试方法。 1-7 尼丁·乔杜里 :
创新实践跟踪:验证和测试的新方法。 1 赛义德·尼玛·莫扎法里 , 博尼塔·巴斯卡兰 , Shantanu Sarangi公司 , 苏哈斯·萨提什 , 郭林福 , 尼森·瓦伦丁 , P.马尼坎丹 , 马赫穆特·伊尔马兹 :
自动测试设备(ATE)测试和系统内测试(IST)期间的现场噪声测量。 1-6 谢尔·戴夫 , 阿尔贝托·马尔基西奥 , 穆罕默德·阿卜杜拉·哈尼夫 , 阿米拉·盖斯米 , 阿维拉尔·施瓦斯塔瓦 , 伊森·阿鲁阿尼 , 穆罕默德·沙菲克 :
专题会议:迈向高效、可靠和安全ML系统的敏捷设计方法。 1-14 周子棋 , 乌杰瓦尔·吉尼 , 彭丽 , 维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔 :
Skyrmion逻辑电路技术特定缺陷的故障建模和测试生成。 1-7 鲁宾·A·帕雷基 :
创新实践跟踪:图像投影和雷达VLSI系统系统级测试的新方法。 1 港区 , 本杰明·谭 , 库赫利·普拉蒂哈尔 , Debdeep Mukhopadhyay公司 , 拉梅什·卡里 :
创新实践轨道:安全测试和安全测试。 1 莫娜·甘吉 , 马兰帕利赛基兰 , 陈德刚(Degang Chen) :
全数字低开销SAR ADC内置自检,用于故障检测和诊断。 1-7 白沙基拉尼·比斯瓦 , 德普·古普塔 :
记忆电阻器特定故障:新的验证方法和新出现的测试问题。 1-7 阿布拉姆·德托夫斯基 :
特别会议:芯片可测试性实践者指南。 1-2 Anteneh Gebregiorgis公司 , 吴丽洲 , 克里斯托弗·穆奇 , 悉达赫·拉奥 , Mehdi B.Tahoori公司 , 哈姆迪奥伊说 :
专题会议:STT-MRAM:技术、设计和测试。 1-10
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