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DFT 2001：美国加利福尼亚州旧金山

>主页 >会议和研讨会 >DFT（干膜厚度）

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第16届IEEE VLSI系统缺陷和容错国际研讨会（DFT 2001），2001年10月24日至26日，美国加利福尼亚州旧金山，会议记录。 IEEE计算机学会 2001，国际标准图书编号0-7695-1203-8

晶圆秤

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  - conf/dft/KorenKC01
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以色列可兰经,扎哈瓦·科伦,格伦·查普曼:
芯片上彩色数字相机的高级容错技术。 3-10
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S.K.Tewksbury公司:
MEMS实用DFT面临的挑战。 11-17
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  - conf/dft/AudetC01
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伊夫·奥德特,格伦·查普曼:
一种自校正有源像素传感器的设计。 18-

让

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托马斯·巴奈特,施工支洞D.Singh,维克托·尼尔森:
容错集成电路的成品率可靠性建模。 29-38
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  - conf/dft/哈里森01
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尼尔哈里森:
用于提高产量的简单过孔复制工具。 39-47
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  - conf/dft/ZhaoHMC01
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赵天旭,岳浩,马培军,陈泰峰:
基于离散缺陷分布模型的集成电路可靠性与成品率的关系。 48-

可靠的设计

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  - conf/dft/Manhaeve K01公司
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汉斯·曼哈夫（Hans A.R.Manhaeve）,斯特凡·科克奈尔:
一种用于验证IC电源连接的片上检测电路。 57-65
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  - conf/dft/LalaW01
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巴拉格·K·拉拉,阿尔弗农·沃克:
可在线检测错误的无进位加法器设计。 66-71
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  - conf/dft/WeiS01
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魏淑刚,清水贤介:
使用带符号数字系统的残差检查器检测算术电路的错误。 72-77
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  - conf/dft/NgaiSH01
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Tat Ngai公司,Earl E.Swartzlander Jr.小伯爵。,陈河:
使用交替逻辑的增强并发纠错算术单元设计。 78-83
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  - conf/dft/LeveugleC01
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雷吉斯·勒沃格尔,R.Cercueil公司:
在线测试或容错VHDL描述的高级修改。 84-

测试技术1

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J.H.江,Shih-Chieh Chang先生,文本·琼斯:
使用广播测试体系结构进行嵌入式核心测试。 95-103
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  - conf/dft/索斯诺斯基01
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贾努斯·索斯诺斯基:
分析BIST鲁棒性。 104-109
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  - conf/dft/NovakN01
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昂德雷·诺瓦克,吉里·诺塞克:
使用扫描链进行测试模式解压缩。 110-115
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  - conf/dft/LiLM01
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李晓伟,华为Li,英华民:
降低空载测试应用过程中的功耗。 116-

阵列中的容错

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俞淑怡,爱德华·J·麦克罗斯基:
具有有限冗余区域的FPGA的永久性故障修复。 125-133
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Itsuo Takanami公司:
通过直接更换备件实现容错网状连接处理器阵列的内置自重构系统。 134-142
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津田信夫:
ABL-Tree：一种用于可重构处理器阵列的恒定直径互连网络，能够进行分布式通信。 143-148
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约翰·马蒂·埃默特,杰森·切萨姆（Jason A.Cheatham）:
FPGA中用于互连容错的在线增量路由减去路由器。 149-

故障检测

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  - conf/dft/ChenHPML01
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陈晓涛,黄伟康,Nohpill公园,弗雷德·梅耶,法布里齐奥·隆巴迪:
二维组合阵列故障检测的新方法。 161-169
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  - conf/dft/BolchiniS01
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克里斯蒂亚娜·博基尼,法比奥·萨利斯:
检测VLIW数据路径中硬件故障的软件方法。 170-175
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  - conf/dft/AlderighiCDSS01
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Seok-Bum Ko公司,田霞,罗洁忠:
FPGA中的高效奇偶校验预测。 176-181
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Nahmsuk噢,爱德华·麦克卢斯基:
过程调用复制：在受限的错误检测延迟下，将能量消耗降至最低。 182-

基于FPGA的应用

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  - conf/dft/AlderighiCDSS01a
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莫妮卡·奥尔德利吉,法比奥·卡西尼,塞尔吉奥·达安吉洛,大卫·萨维,贾科莫·塞奇:
空间应用多传感器系统中基于FPGA的多级互连网络的容错策略。 191-199
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吴凯杰,拉梅什·卡里:
基于空闲周期的RC6加密并发错误检测。 200-205
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  - conf/dft/HuangMM01
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黄伟杰,萨巴辛·密特拉,爱德华·麦克卢斯基:
基于FPGA的可靠应用程序中的快速运行时故障定位。 206-214
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  - conf/dft/Ghosh-DastidarT01
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贾亚布拉塔·戈什-达斯蒂达尔,努尔·A·图巴:
利用可重构性提高FPGA延迟故障的诊断分辨率。 215-220
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  - conf/dft/SunXT01型
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孙晓玲,徐健,彼得·特鲁博斯特:
使用进位逻辑模块测试Xilinx XC4000可配置逻辑块。 221-

故障注入

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  - conf/dft/GraciaBGG01
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华金·格雷西亚（Joaquin Gracia）,胡安·卡洛斯·巴拉扎,丹尼尔·吉尔,佩德罗·吉尔:
基于VHDL的不同故障注入技术的比较与应用。 233-241
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雷吉斯·勒沃格尔:
IP可靠性验证的低成本硬件方法。 242-249
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  - conf/dft/CiveraMRRV01
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皮埃尔路易吉·西维拉,卢卡·马奇亚鲁洛,毛里齐奥·雷巴登戈,马泰奥·桑扎·雷尔达,马西莫·维奥兰特:
开发基于FPGA的VLSI电路故障注入技术。 250-258
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  - conf/dft/VelazcoLC01
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拉乌尔·贝拉斯科,雷吉斯·莱夫格尔,奥斯卡·卡尔沃:
VHDL描述中的类Upset-Like故障注入：一种方法和初步结果。 259-

测试技术2

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  - conf/dft/KarimiL01
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法津·卡里米,法布里奇奥·隆巴迪:
BIST多端口静态随机存取存储器的并行测试。 271-279
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  - conf/dft/LeeCM01
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保罗李,阿尔弗雷德·陈,迪利普·马修:
增量IDDQ实现的速度相关方法。 280-286
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  - conf/dft/YotsuyanagiHIIT01公司
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柳柳博之,Masaki Hashizume先生,岩崎大辅,一宫Masahiro Ichimiya,田田武美:
应用时变电场对开放性缺陷进行电源电流测试的测试模式。 287-

公钥体制

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  - conf/dft/NambaF01
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卡祖特鲁·南巴,藤原英治:
具有两级突发和比特纠错功能的不等错误保护码。 299-307
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  - conf/dft/KazeminejadB01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/KazeminejadB01
阿米尔·卡泽·米内贾德,埃里克·贝尔海尔:
用于片上DRAM应用的快速、最小解码复杂性、系统级、二进制系统（41，32）单纠错码。 308-313
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  - conf/dft/PiestrakDM01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/PiestrakDM01
斯坦尼斯劳·彼得拉克,阿巴斯·丹达奇,法布里斯·蒙泰罗:
一类系统纠错码的故障安全编码器设计。 314-

混合信号电路

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  - conf/dft/XuanC01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/XuanC01网址
向东轩,阿比吉特·查特吉:
混合信号集成电路在电迁移和热载流子效应下的灵敏度和可靠性评估。 323-328
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  - conf/dft/Walker01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/Walker01
阿尔弗农·沃克:
一种基于阶跃响应的混合信号BIST方法。 329-337
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  - conf/dft/BernardABR01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/BarnardABR01
谢尔盖·伯纳德,佛罗伦萨阿扎伊斯,伊夫·贝特朗,米歇尔·雷诺维尔:
用于ADC测试的模拟BIST发生器。 338-346
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  - conf/dft/SinghK01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/SinghK01
曼迪星,以色列可兰经:
模数转换器（ADC）的可靠性增强。 347-

缺陷分析

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  - conf/dft/MetraFRM01
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塞西莉亚·梅特拉,斯蒂法诺·迪·弗朗西丝坎托尼奥,布鲁诺·里科,T.M.Mak公司:
时钟配电网最可能发生的故障及其影响评估。 357-365
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  - conf/dft/NagarajUZA01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/NagarajUZA01
Pradeep Nagaraj公司,香蒲乌帕达亚,卡姆兰·扎里纳,R.迪安·亚当斯:
多端口SRAM的缺陷分析和一种新的故障模型。 366-374
- 看法
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  - conf/dft/BlyzniukK01
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/BlyzniukK01
米科拉·布莱兹纽克,伊雷娜·卡兹米拉:
从标准单元库开发用于复杂闸门缺陷/故障分析的专用软件工具。 375-383
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  - conf/dft/PleskaczKOK01文件
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  - https://dblp.org/rec/conf/dft/PleskaczKOK01
维托尔德·A·普莱斯卡茨,多米尼克·卡斯普洛维奇,托马斯·奥利什扎克,维斯拉夫·库兹米茨:
基于缺陷测试的CMOS标准电池特性。 384-

自检和故障保护电路

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  - conf/dft/MatrosovaOL01型
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余安哲拉。马托洛索娃,谢尔盖·奥斯塔宁,伊利亚·莱文:
可生存自检时序电路。 395-402
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  - conf/dft/OttaviCCPRS01
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马可·奥塔维,吉安·卡洛·卡达利利,D.塞利蒂,萨尔瓦多-蓬塔雷利,马可·雷,阿德利奥·萨尔萨诺:
有限状态机全自检签名分析检查器的设计。 403-411
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  - conf/dft/KolonisN01
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Eleftherios Kolonis公司,迈克尔·尼古拉迪斯:
复制系统的故障安全同步电路。 412-417
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  - conf/dft/SteiningerS01
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安德烈亚斯·斯坦宁格,克里斯托夫·谢勒:
如何调整故障静音系统的MTTF。 418-

容错技术

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  - conf/dft/KarriWMK01
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拉梅什·卡里,吴凯杰,皮尤什·米什拉,金永国:
基于故障的边信道密码分析容错Rijndael对称分组密码体系结构。 427-435
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  - conf/dft/KamiuraTIM01
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Naotake Kamiura公司,丰田正史,井川捷次郎,松井信义:
基于变速的模糊控制器故障补偿研究。 436-444
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  - conf/dft/EmmertBKTSA01
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约翰·马蒂·埃默特,斯坦利·鲍姆加特,潘卡杰·卡塔利亚,安德鲁·泰勒,查尔斯·斯特劳德,米隆·阿布拉莫维奇:
FPGA与Roving STAR互连的在线容错。 445-454
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  - conf/dft/PontarelliCMORS01
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萨尔瓦多-蓬塔雷利,吉安·卡洛·卡达利利,A.马尔沃尼,马可·奥塔维,马可·雷,阿德利奥·萨尔萨诺:
面向系统芯片的容错顺序系统实现方法。 455-460
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  - conf/dft/Al-YamaniOM01
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艾哈迈德·阿尔·雅马尼,Nahmsuk噢,爱德华·麦克卢斯基:
基于校验和的ABFT性能评估。 461-

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