1999年第八届亚洲测试研讨会：中国上海
第八届亚洲测试研讨会（ATS’99），1999年11月16日至18日，中国上海。 IEEE计算机学会 1999 ，国际标准图书编号 0-7695-0315-2
ATPG相关方法I
Satoshi Ohtake先生 , 井上美彦 , 藤原秀夫 :
一种使用从RTL描述中提取的测试知识生成弱可测试数据路径的测试方法。 5-12 Junichi Hirase公司 , 吉村信一 , Tomohisa Sczaki公司 :
自动测试模式生成以提高微处理器的故障覆盖率。 13-19 川原诚司 , 村上松树 , Tomohisa Kaneko :
大型电路多重卡阻故障的紧凑测试集。 20-24 Masaki Hashizume先生 , Hiroyuki Yotsuyanagi先生 , 田田武美 :
振荡反馈桥接故障的识别。 25-
延迟故障和存储器测试
艾德·范德古尔 , J.E.西蒙斯 :
SRAM电阻缺陷的定义及其模拟激励。 33-40 Irith波美拉兹 , Sudhakar M.Reddy公司 :
延迟故障的基于矢量的功能故障模型。 41-46 G.西迪罗普洛斯 , Haridimos T.Vergos公司 , 迪米特里斯·尼科洛斯 :
易于路径延迟故障测试的非恢复蜂窝阵列分配器。 47-52 哈姆迪奥伊说 , 艾德·范德古尔 :
面向单词的双端口存储器三月测试。 53-
ATPG相关方法II
许世义 , Tukwasibwe Justaf Frank公司 :
组合电路测试生成算法的评估。 63-69 曾志德 , 陈继华 , 曹鹤峰 :
超大规模组合电路高速测试生成的研究与实现。 70-74 伊里斯·波梅兰兹 , Sudhakar M.Reddy公司 :
模式灵敏度：指导组合电路测试生成的特性。 75-80 京柔堂 :
CMOS门的精确逻辑阈值电压确定模型，便于测试生成和故障模拟。 81-
BIST相关方法
帕特里克·吉拉德 , 洛斯·吉勒 , 克里斯蒂安·兰德罗 , 谢尔盖·普拉沃索多维奇 :
最小峰值功耗的低功耗BIST设计电路分区。 89-94 冯文一 , 黄伟康 , 弗雷德·梅耶 , 法布里奇奥·隆巴迪 :
使用IEEE 1149.1 STD进行互连测试的BIST TPG方法。 95-100 阿尔布雷赫特·斯特罗勒 , 弗兰克·梅耶 :
带回路折叠的测试调度及其在带蓄能器的测试配置中的应用。 101-106 C.P.拉维库马尔 , Ashutosh Verma公司 , 高拉夫·钱德拉 :
核系统功率约束测试的多项式时间算法。 107-112 谢尔盖·N·德米登科 , Kenneth V.杠杆 :
加速测试数据处理。 113-
测试生成、诊断和验证
阿拉比·凯什克 , Kozo Kinoshita公司 , 三浦幸也 :
克服拜占庭将军关于CMOS电路桥接故障问题的程序。 121-126 Chanyutt Arjhan公司 , Raghvendra G.Deshmukh公司 :
一种新的并行乘法器和除法器故障检测技术。 127-132 曾志德 , 陈继华 , 刘鹏霞 :
大规模VLSI电路并行测试生成中的故障划分方法。 133-
IDDQ测试
Higami吉信 , 高松裕三（Yuzo Takamatsu） , Kewal K.Saluja公司 , Kozo Kinoshita公司 :
减少时序电路IDDQ测量矢量的故障模拟技术。 141-146 Hideyuki Ichihara公司 , Kozo Kinoshita公司 , 川原诚司 :
时序电路IDDQ测量矢量的有效选择。 147-152 Junichi Hirase公司 , 直系新都 , 库吉·阿卡霍里 :
基于IDDQ电流测量的扫描链诊断。 153-157 阿拉比·凯什克 , 木下幸三 , 三浦由纪弥 :
IDDQ电流对测试矢量和桥接电阻的依赖性。 158-163 Tsuyoshi Shinogi公司 , Terumine Hayashi公司 :
大型组合电路紧凑IDDQ测试集并行生成系统。 164-
顺序电路测试
兴昌亮 , 李忠仁 :
基于时序电路测试生成和结构的混合扫描和复位设计的有效方法。 173-178 李深 :
基于遗传算法的时序电路测试生成。 179-184 M.H.科尼恩伯格 , 汉斯·范德林登 , 艾德·范德古尔 :
故障相关成本估算和冲突定向回溯指导时序电路测试生成。 185-191 细川俊一 , 平冈俊弘 , 井上聪 , 藤原秀夫 :
使用时间扩展模型的非循环时序电路静态和动态测试序列压缩方法。 192-
容错与诊断
谷口靖国 , Naotake Kamiura公司 , Yutaka Hata公司 , 松井信义 :
容错前馈神经网络的激活函数操作。 203-208 张涛（Tao Zhang） , 东城湖 , 杨世元 :
具有阈值神经元的反馈神经网络的容错分析。 209-213 高建华 , 石黄邵 :
应用软件的容错策略及其设计方法。 214-217 彭成莲 , 吴白凤 , 孙晓光 :
通过分布式监控进行测试。 218-
模拟电路测试
阿卜杜勒哈基姆·库亚斯 , 穆罕默德·德斯苏基 , 安妮·德瑞克斯 :
优化的统计模拟故障模拟。 227-232 苏朝琴 , 陈裕曾 , 李忠仁 :
噪声环境中的模拟计量和激励选择。 233-238 山姆·D·胡恩 , 张金燕 , Seongwon Kim先生 , 吉里·德瓦拉亚纳杜格 , 马尼·索马 :
模拟和混合信号电路与系统的高效测试集设计。 239-
铁路信号软件
吴芳梅 , 孟莉（Meng Li） :
基于动态决策表的铁路信号安全关键软件测试。 247-250 徐忠伟 , 吴芳梅 :
一种新的安全关键软件测试方法。 251-255 海鹰图 , 吴芳梅 :
如何设计安全关键软件测试的环境模拟器。 256-
DFT（干膜厚度）
德贝什·库马尔·达斯 , Satoshi Ohtake先生 , 藤原秀夫 :
具有完全故障效率的非扫描时序电路的新DFT技术。 263-268 山田泰彦 , Toshinori Kotake公司 , 高桥洋 , 山崎康治 :
用无故障硬件重置识别顺序PLA中的冗余交叉点故障。 269-274 阿比吉特·贾斯 , Kartik Mohanram公司 , 努尔·图巴 :
一种获得高度压缩测试集的嵌入式内核DFT方案。 275-
软件测试与验证
Youngchul Kim先生 , C.罗伯特·卡尔森 :
面向对象软件开发的基于场景的集成测试。 283-288 淮口苗族 , 高晓蕾 , 刘玲（Ling Liu） :
一种测试Z规范中初始状态不存在性的方法。 289-294 伊恩·何 , 金Cherng Lin（音译） :
用时间Petri网模型生成实时软件测试用例。 295-300 Shyue-Kung路 , 李宗英 , 吴成文 :
使用多模型故障覆盖率进行缺陷级别预测。 301-
扫描和边界扫描
高崎富也 , 藤原秀夫 , 井上聪 :
基于非循环结构的部分扫描设计的高级综合方法。 309-314 黄宗楚 , 李国忠（Kuen-Jong Lee） :
测试应用期间扫描电路功率降低的输入控制技术。 315-320 陈兴浩 , 托马斯·J·斯涅森 , 乔·斯文顿 , 罗恩·沃尔特 :
测试IBM管道部分扫描微处理器的简化方法。 321-326 黄祖兰 , 仪征叶 , 毛志刚 :
一种新的基于重定时的部分扫描算法。 327-
日本的光束测试
三浦胜代 , Koji Nakamae公司 , 藤冈博文 :
用于VLSI故障自动跟踪的智能EB测试系统。 335-341 高桥洋 , 夸梅·奥塞·博阿滕 , 高松裕三（Yuzo Takamatsu） , 柳田信弘 :
基于EB测试仪和多/单故障模拟器的逻辑电路多故障诊断。 341-346 岛田重介 , 吉田隆树 , 瓦塔里正文 , 丰田安弘 , 清川西清 , 阿基拉·莫托哈拉 :
全扫描时序电路中卡滞、桥接和测量状态相关故障的自动故障诊断的实际应用。 347-
FPGA测试
Yinlei余 , 徐健 , 黄伟康 , 法布里奇奥·隆巴迪 :
最小化FPGA互连故障诊断的编程步骤数。 357-362 米歇尔·雷诺维尔 , Jean-Michel门户 , 琼·菲格雷斯 , Yervant Zorian公司 :
最小化不同FPGA系列的测试配置数量。 363-368 阿卜杜拉希姆·杜马 , 伊藤秀夫 :
测试FPGA的逻辑单元和互连资源。 369-374 兰昭（Lan Zhao） , D.M.H.Walker博士 , 法布里奇奥·隆巴迪 :
基于SRAM的FPGA输入/输出资源的IDDQ测试。 375-
日本的光束测试
Nikawa清治 , 井上秀治 , 森本和辅 , Shinya Sone公司 :
使用IR-OBIRCH（红外光束感应电阻变化）方法进行故障分析案例研究。 383-388 Takahide Sakata公司 , Hideyuki Takahashi公司 , Tetsu Sekine公司 , 小原俊彦 :
由双光束FIB分析引起的Ga污染的研究。 389-393 Nikawa清治 , 井上秀治 , 森本和辅 , Shinya Sone公司 :
使用IR-OBIRCH（红外光束感应电阻变化）方法进行故障分析案例研究。 394-
