“内存用高压设备的偏置温度不稳定性(BTI)…”
J.P.巴斯托斯 , 巴里·奥沙利文 , 雅各布·佛朗哥 , 斯坦尼斯拉夫·蒂亚吉诺夫 , 布莱希特·特鲁伊扬 , 阿德里安·维斯曼·查辛 , 罗宾·德雷夫 , 本·卡泽尔 , 罗曼·里森塔勒 , 埃琳娜·卡普格雷科 , E.Dentoni Litta公司 , 阿莱西奥·斯佩索特 , 东日本Yusuke Higashi , Y.Yoon先生 , V.马奇考桑 , 皮埃尔·法赞 , N.Horiguchi公司 :
存储器外围高压器件的偏置温度不稳定性(BTI)。 IRPS公司 2022 : 1-6
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