“基于电压的通用多分支电迁移永久性检查……”
孙泽瑜 , Ertugrul Demircan公司 , Mehul D.Shroff公司 , Taeyong Kim公司 , Xin Huang(新黄) , 谢尔登·X·D·谭 :
一般多分支互连的基于电压的电迁移不朽性检查。 国际计算机辅助设计协会 2016 : 113
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