IEEE计算机设计与测试，第3卷
第3卷第1期，1986年2月
罗斯塔姆·乔巴尼 , 丹尼尔·西维奥雷克 
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韦弗：基于知识的路由专家。 12-23 沃尔特·斯科特 , 约翰·奥斯特霍特 :
魔法电路提取器。 24-34 安德烈·斯特罗杰斯 :
CMU-CAM系统。 35-44 兴盛盛丰 , 桑福德·S·赫斯霍恩 :
Silc Silicon编译器的自动DFT系统。 45-57 安舒尔·库马尔 , 安贾利·阿里亚 , V.V.斯瓦米纳坦 , 阿米特·米斯拉 :
数字系统原理图的自动生成。 58-65 路易斯·谢弗 , 罗尼·索塔曼 :
使用用户定义的规则对IC艺术品进行层次分析。 66-74 C.杜沃德·罗杰斯 :
VIVID符号设计系统：当前概述和未来方向。 75-81 康拉德·扎格温 :
新产品测试。 88-90 J.丹尼尔·纳什 :
新产品设计。 91-92 罗伯特·安德森 :
书评。 95
第3卷第2期，1986年4月
艾伦·杜威 , 安东尼·加迪恩 :
VHDL激励。 12-16 詹姆斯·艾勒 , 罗纳德·韦克斯曼 , 查尔斯·斯卡拉特 :
VHDL-功能描述和分析。 17-27 罗杰·利普塞特 , 埃里希·马什内尔 , 莫·沙赫达德 :
VHDL-语言。 28-41 阿尔弗雷德·吉尔曼 :
VHDL-设计器环境。 42-47 阿尔·洛文斯坦 , 格瑞格·温特 :
VHDL对测试的影响。 48-53 J.丹尼尔·纳什 , 拉里·桑德斯 :
VHDL评论。 54-65 威廉·辛普森 , 卡罗尔·道林 :
WRAPLE：加权维修援助计划学习扩展。 66-73 J.丹尼尔·纳什 :
新产品设计。 84 康拉德·扎格温 :
新产品测试。 85
第3卷第3期，1986年6月
戴夫·W·帕尔默 , 约翰·维斯涅夫斯基 :
从大型机到工作站环境的IC设计能力转换。 18-24 马克·林顿 :
标杆工程工作站。 25-30 罗尔夫·迪特尔·费布里奇 :
超大规模集成电路CAD的超级计算机工作站。 31-37 铃本亚基拉 :
VEGA：数字系统的可视化建模语言。 38-45 K.L.Kodandapani公司 , 爱德华·J·麦格拉思 :
用于验证VLSI布局的有线列表比较程序。 46-51 迪利普·巴夫萨尔 :
MOS中可扫描翻转的一种新的经济实现。 52-56 J.丹尼尔·纳什 :
新产品设计。 65-67 康拉德·扎格温 :
新产品测试。 68-69
第3卷第4期，1986年8月
Thirumalai Sridhar公司 :
一种新的大型存储器并行测试方法。 15-22 Teruo Tamama公司 , 诺里奥·库吉 :
将电子束系统集成到VLSI故障诊断中。 23-29 丹尼斯·彼得里奇 :
在TTL/CMOS器件上实现精确的定时测量。 33-42 米隆·阿布拉莫维奇 , 詹姆斯·库利科夫斯基 , 普雷马坎德兰·梅农 , 大卫·T·米勒 :
SMART和FAST：VLSI扫描设计电路的测试生成。 43-54 杰里·索登 , 查尔斯·霍金斯 :
CMOS IC中栅氧化短路的测试注意事项。 56-64 J.丹尼尔·纳什 :
新产品设计。 72 康拉德·扎格温 :
新产品测试。 73-75 罗伯特·安德森 :
书评。 76-77
第3卷第5期，1986年10月
肯尼思·帕克 :
可测试性：接受障碍。 11-15 马杜卡·雷迪 , Sudhakar M.Reddy公司 :
检测CMOS锁存器和触发器中的FET卡开故障。 17-26 苏尼尔·贾因 , 查尔斯·斯特劳德 :
嵌入式内存的内置自检。 27-37 E.特德·格林塔尔 :
软件质量保证和CAD用户界面。 39-48 大卫·海托尔 , 阿尔特·德盖斯 , 帕特里克·法桑 , 罗伯特·格里芬 , 加里·利夫 :
通用电气微电子中心的计算机辅助设计研究。 49-56
第3卷第6期，1986年12月
雨果·德曼 , 简·M·拉比 , 保罗六号 , 吕克·克莱森 :
Cathedral II：数字信号处理的硅编译器。 13-25 弗兰斯·P·M·比恩克 , Karel J.E.van Eerdewijk公司 , 罗伯特·B·W·格里森 , 弗兰克·N·皮科克 , Max van der Star公司 :
宏观测试：统一IC和板测试。 26-32 约阿希姆·穆查 , 威尔弗里德·戴恩 , 约瑟夫·格罗斯 :
标准细胞环境中的自我测试。 35-41
