姚晓音
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2010 – 2019
2012 【c4】 姚晓音 , 惠妮 , G.阿隆佐·维拉 :
地面辐射效应对智能电网可靠性的影响。 ISGT公司 2012 : 1-6 2010 【c3】 姚晓音 , 劳伦斯·克拉克 , 丹·帕特森 , 基思·霍尔伯特 :
使用瞬态错误检查电路在缓存中缓解单事件瞬态。 中金公司 2010 : 1-4 【c2】 斯利瓦桑·切拉帕 , 贾妮 , 姚晓音 , 内森·D·欣德曼 , Jyothi Velamala公司 , 陈敏(音) , 于曹 , 劳伦斯·克拉克 :
SRAM可变性的现场表征和提取。 数模转换器 2010 : 711-716 【c1】 塞缪尔·莱什纳 , Krzysztof S.Berezowski先生 , 姚晓音 , 加亚特里·查利文德拉 , Saurabh Patel公司 , 萨尔马·B·K·弗鲁杜拉 :
65 nm CMOS中基于低功耗、高性能阈值逻辑的标准单元乘法器。 超大规模集成电路 2010 : 210-215
合著者索引
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