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悉尼威立雅运输公司2007：美国加利福尼亚州伯克利

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第25届IEEE VLSI测试研讨会（VTS 2007），2007年5月6日至10日，美国加利福尼亚州伯克利。 IEEE计算机学会 2007，国际标准图书编号0-7695-2812-0

射频测试I

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  - conf/vts/AcarOR07
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埃尔坎·阿卡尔,苏莱·奥泽夫,凯文·雷德蒙德:
使用单一测量设置的低成本射频MIMO测试方法。 3-8
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Haralampos G.D.Stratigopoulos公司,Petros Drineas公司,穆斯塔法·斯拉马尼,伊奥尔戈斯·马克里斯:
使用学习机器的非射频测试相关性：案例研究。 9-14
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  - conf/vts/Negreiros公司SCS07
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马塞洛·内格雷罗斯,小António de Souza。,路易吉·卡罗,阿尔塔米罗·阿马德乌·苏辛:
Nyquist之外的射频数字信号生成。 15-22

延迟测试质量

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  - conf/vts/BoseA07
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Soumitra Bose公司,维什瓦尼·D·阿格拉瓦尔:
使用有界门延迟进行延迟测试质量评估。 23-28
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  - conf/vts/KrusemanMG07
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布拉姆·克鲁斯曼,安娜塔·马吉,吉多·格隆索德:
关于路径延迟模式的性能测试。 29-34
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  - conf/vts/NajeebKHKV07会议
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K.纳吉卜,毗湿奴·瓦尔丹·雷迪·孔达,Siva Kumar Sastry哈里,V.卡马科蒂,维维卡南达·M·维杜拉:
使用电路的行为模型生成超级病毒。 35-42

记忆测试

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  - conf/vts/GinezDGLPV07
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奥利维尔·基内兹,让·米歇尔·达加,帕特里克·吉拉德,克里斯蒂安·兰德罗,谢尔盖·普拉沃索多维奇,阿诺·维拉泽尔:
嵌入式闪存中的保留和可靠性问题：缺陷2T-FLOTOX隧道窗口的分析和测试。 47-52
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余绍兴,黄春秋,叶人杰,吴成文:
SDRAM延迟故障建模和性能测试。 53-58
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  - conf/vts/Al-ArsHG07
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扎伊德·阿尔阿尔斯,哈姆迪奥伊说,乔治·盖德吉耶夫:
优化DRAM设备中软故障的测试长度。 59-66

测试压缩

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  - conf/vts/WohlWKRGWJ07
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彼得·沃尔,约翰·韦库考斯基（John A.Waicukauski）,罗希特·卡普尔,桑杰·拉姆纳特,埃米尔·吉兹达尔斯基,托马斯·威廉姆斯,P.贾尼:
最小化扫描压缩的影响。 67-74
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Dariusz Czysz公司,格热戈兹·姆鲁加尔斯基,贾努斯·拉赫斯基,杰西·泰泽尔:
低功耗嵌入式确定性测试。 75-83
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  - conf/vts/ChandraYK07
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安舒曼·钱德拉,海华燕,罗希特·卡普尔:
用于减少测试应用时间和测试数据量的多模伊利诺伊扫描体系结构。 84-92

追踪缺陷

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  - conf/vts/Thibeault07公司
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克劳德·蒂博特:
关于一种新的孤立点剔除技术。 97-103
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  - conf/vts/ChoiHC07选项
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崔贤宇,东勋·韩,阿比吉特·查特吉:
使用抖动扩展的增强分辨率抖动测试。 104-109
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  - conf/vts/HuangC07
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黄湘惠,程庆华:
用Clock-Vdd测试和诊断额定功率电路中的电源开关。 110-118

在线测试

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  - conf/vts/LaknaurXW07
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阿米特·拉克纳,芮晓,王海波:
用于模拟在线测试的可编程窗口比较器。 119-124
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玛丽亚姆·阿修伊,Soumendu Bhattacharya公司,阿比吉特·查特吉:
利用普遍噪声引起的算子误差对数字滤波器进行概率补偿。 125-130
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马晓军,Jing Huang（黄晶）,法布里奇奥·隆巴迪:
DNA自组装中的误差容限（2k-1）x（2k-1）Snake Tile Sets。 131-140

诊断I

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  - conf/vts/ArumiRFEHKLM07
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丹尼尔·阿鲁米,罗莎·罗德里格斯-蒙塔涅斯,琼·菲格雷斯,斯特凡·艾森伯格,山茶树Hora,布拉姆·克鲁斯曼,莫里斯·路易斯伯格,安娜塔·马吉:
基于低电源电压下电流特征的桥接缺陷诊断。 145-150
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  - conf/vts/陈CL07
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陈俊伟（Jyun-Wei Chen）,陈英彦（音）,靖佳柳:
在诊断中处理模式相关的延迟故障。 151-157
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  - conf/vts/罗德里格斯·蒙塔内斯AFEHKLM07
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罗莎·罗德里格斯-蒙塔涅斯,丹尼尔·阿鲁米,琼·菲格雷斯,斯特凡·艾森伯格,山茶树Hora,布拉姆·克鲁斯曼,莫里斯·路易斯伯格,安娜塔·马吉:
互连线路中完全开放缺陷的诊断。 158-166

延迟故障的ATPG

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  - conf/vts/DevanathanRK07
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V.R.德瓦纳坦,C.P.拉维库马尔,V.卡马科蒂:
用于电源安全扫描测试的Glitch-Aware模式生成和优化框架。 167-172
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  - conf/vts/艾扬格PFWLGTDO07
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维克拉姆·艾扬加,肯尼思·皮查穆图,安德鲁·费尔科,弗兰克·沃伊特维奇,大卫·E·拉克,加里·格里斯,马克·泰勒,迈克·迪格雷戈里奥,史蒂文·奥克兰:
合同制造ASIC的空速和ATE驱动延迟测试的集成框架。 173-178
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  - conf/vts/AhmedTJ07
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尼萨尔·艾哈迈德,穆罕默德·特赫拉尼普尔,贾亚拉姆:
转换延迟故障的电源电压噪声感知ATPG。 179-186

测试进展

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  - conf/vts/ChoM07
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Kyoung Youn Cho先生,爱德华·麦克卢斯基:
使用门穷尽测试度量重新排序测试集。 199-204
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  - conf/vts/Dworak07文件
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詹妮弗·德沃拉克:
基于观测/激励感知部分故障定位的加权随机模式缺陷检测分析。 205-210
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  - conf/vts/PutmanT07
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理查德·普特曼,努尔·图巴:
使用多重扩展比和相关性分析改进测试压缩。 211-218

诊断II

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  - conf/vts/AdapaTM07
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拉杰克哈尔·阿达帕,斯皮罗斯·特拉古达斯,玛丽亚·K·迈克尔:
通过故障集之间的优势关系加速诊断。 219-224
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  - conf/vts/缩放CRT07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/ZouCRT07
Wei Zou（魏邹）,吴东成,Sudhakar M.Reddy公司,华星堂:
使用一个小字典加速效应-原因缺陷诊断。 225-230
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  - conf/vts/VimjamAGVHY07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/VimjamAGVHY07
毗湿奴·C·维姆贾姆,M.Enamul Amyeen先生,郭瑞峰,斯里坎思·文卡塔拉曼,迈克尔·S·萧,开阳:
使用扫描转储值改进功能诊断方法。 231-238

故障评估

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  - conf/vts/HosseinabadyNLN07
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穆罕默德·侯赛纳巴迪,穆罕默德·侯赛因·内沙武里,佩杰曼·洛特菲-卡姆兰,扎伊纳拉本·纳瓦比:
基于UML的SoC设计系统级故障率评估技术。 243-248
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  - conf/vts/HayesPB07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/HayesPB07
约翰·海耶斯,伊利亚·波利安,伯恩德·贝克尔:
瞬态误差容限分析框架。 249-255
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  - conf/vts/MullinsATKGBR07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/MullinsATKGBR07
布赖恩·马林斯,侯赛因·阿萨迪,梅迪·巴拉达兰·塔胡里,大卫·R·凯利,凯文·格兰伦德,鲁迪·鲍尔,斯科特·罗曼诺:
案例研究：存储系统中的软错误率分析。 256-264

故障预测与评估

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  - conf/vts/SchermyerPJKRB07公司
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/SchuermyerPJKRB07
克里斯·舒尔迈尔,朱尔·潘吉利南,杰伊·贾汉吉里,马丁·凯姆,贾努斯·拉赫斯基,Brady Benware公司:
静态替代故障模型的硅评估。 265-270
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  - conf/vts/WilsonFGMBOK07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/WilsonFGMBOK07网址
西蒙·威尔逊,Ben Flood公司,苏雷什·戈亚尔,吉姆·莫舍,苏珊·伯金,约瑟夫·奥布莱恩,罗伯特·肯尼迪:
不完全测试和修复模型的参数估计。 271-276
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  - conf/vts/AgarwalPZM07
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米里杜尔·阿加瓦尔,比普尔·C·保罗,张明（Ming Zhang）,萨巴辛·密特拉:
电路故障预测及其在晶体管老化中的应用。 277-286

模拟测试

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  - conf/vts/KimFA07
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Byoungho Kim先生,傅振海,雅各布·A·亚伯拉罕:
差分混合信号规范的变压器耦合环回测试。 291-296
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  - conf/vts/NatarajanSCF07
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维什瓦纳特·纳塔拉扬,加内什·斯里尼瓦桑,阿比吉特·查特吉,克雷格力:
用于多频段、多硬件无线电规范测试的新型基于交叉回溯的测试方法。 297-302
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  - conf/vts/JinCG07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/JinCG07网址
乐进,陈德刚（Degang Chen）,兰德尔·L·盖革:
使用单一低线性刺激信号的模数转换器的代码密度测试。 303-310

高级测试技术

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  - conf/vts/HonarmandSSAN07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/HonarmandSSAN07网址
尼玛·霍纳曼德,阿里·沙哈比,Hasan Sohofi公司,马格苏德·阿巴斯普尔,扎伊纳拉贝丁·纳瓦比:
使用虚拟绑定的可降解ASIC的高级合成。 311-317
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  - conf/vts/KangSG07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/KangSG07网址
健康,莎拉·塞思,维杰·甘加兰:
功能测试选择的高效RTL覆盖度量。 318-324
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  - conf/vts/BalakrishnanF07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/BalakrishnanF07
Kedarnath J.Balakrishnan先生,雷芳:
RTL测试点插入以减少延迟测试量。 325-332

内存修复

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  - conf/vts/DuttaT07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/DuttaT07网址
阿维吉特·杜塔,努尔·图巴:
使用基于选择性循环避免的SEC-DED-DAEC代码的多位容错存储器。 349-354
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  - conf/vts/TsengWHLPCC07
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曾楚伟（Tsu-Wei Tseng）,吴春贤,黄郁仁,李金福,亚历克斯·鲍,邱凯文（Kevin Chiu）,艾略特·陈:
一种多端口RAM的内置自修复方案。 355-360
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  - conf/vts/NeyGLPVB07
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亚历山大·奈伊,帕特里克·吉拉德,克里斯蒂安·兰德罗,谢尔盖·普拉沃索多维奇,阿诺·维拉泽尔,马加里·巴斯蒂安:
SRAM写入驱动程序中的电阻开路缺陷导致的未恢复的破坏性写入故障。 361-368

SOC测试

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  - conf/vts/YuYZF07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/YuYZF07
托马斯·爱迪生·于,Tomokazu Yoneda公司,赵丹妮拉,藤原秀夫:
在功率约束下IP核的包装器设计中使用域分区。 369-374
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  - conf/vts/歌曲MYP07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/SongMYP07网址
杰洪之歌,Piljae Min公司,Hyunbean Yi（现代易）,Sungju公园:
基于AMBA的系统芯片测试访问机制设计。 375-380
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  - conf/vts/YonedaSIIF07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/YonedaSIIF07网址
Tomokazu Yoneda公司,阿基科·舒托（Akiko Shuto）,Hideyuki Ichihara公司,井上聪,藤原秀夫:
基于透明SoC测试的TAM设计与优化。 381-388

射频测试II

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  - conf/vts/HungH07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/HungH07网址
T.-L.洪,J.-L.黄:
一种用于射频收发器测试的低成本频谱功率提取技术。 389-394
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  - conf/vts/SenguttuvanC07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/SenguttuvanC07
拉贾拉扬·森古图万,阿比吉特·查特吉:
使用响应检测对射频发射机性能进行替代诊断测试和补偿。 395-400
- 看法
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  - conf/vts/HuangHL07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/HuangHL07网址
Yen-Chih Huang（音译）,谢洪谢,梁洪路:
用于射频BIST应用的集成电流和功率传感器的低噪声放大器。 401-408

测试设计

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  - conf/vts/WohlWP07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/WohlWP07
彼得·沃尔,约翰·怀库考斯基,桑杰·帕特尔:
自动设计和插入最佳单总线编码器。 409-415
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  - conf/vts/PomeranzR07
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伊里斯·波梅兰兹,Sudhakar M.Reddy公司:
Autoscan-Invert：一种改进的扫描设计，无需外部扫描输入或输出。 416-421
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  - conf/vts/Rahaman公司MSP07
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哈菲祖尔·拉哈曼,吉姆森·马修,Biplab K.Sikdar公司,迪拉杰·K·普拉丹:
GF（2^{m}）上位并行乘法器的转移故障可测试性。 422-430

测试大型芯片

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亚历山大·艾莫里,弗雷德里科·费里尼,马塞洛·卢巴斯泽夫斯基,费尔南多·莫雷斯:
用于将片上网络重用为测试访问机制的DfT。 435-440
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  - conf/vts/MetraOMT07配置文件
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塞西莉亚·梅特拉,马丁·奥马尼亚,T.M.马克,西蒙·谭:
高性能微处理器时钟故障测试的新方法。 441-446
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  - conf/vts/TunaBG07
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  - https://dblp.org/rec/conf/vts/TunaBG07网址
马蒂厄金枪鱼,穆尼尔·本阿卜登比,阿兰·格雷纳:
使用嵌入式微测试仪对基于核心的系统芯片进行高速测试。 447-454

确保芯片安全

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  - conf/vts/PaulCB07
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- 股份记录
  持久URL：
  - https://dblp.org/rec/conf/vts/PaulCB07
索姆纳特·保罗,拉贾特·苏布拉·查克拉波蒂,Swarup Bhunia公司:
VIm-Scan：一种低开销的扫描设计方法，用于保护基于扫描的安全芯片中的密钥。 455-460
- 看法
  权限控制：
- 出口记录
  dblp键：
  - conf/vts/LiuH07
- 问别人
- 股份记录
  持久URL：
  - https://dblp.org/rec/conf/vts/LiuH07网址
刘春生,黄宇:
嵌入式解压缩和压缩结构对侧通道抗攻击性的影响。 461-468

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