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巴拉克里希南。;E.卡斯蒂利亚。

威布尔寿命和竞争风险下破坏性一次性设备测试数据的稳健推断。 （英语） Zbl 1522.62092号

J.计算。申请。数学。 437，文章ID 115452，12 p.（2024）.
概要：从破坏性单发装置获得的数据通常通过指示装置故障或成功的二进制响应变量进行研究。但是，在许多实际情况下，考虑到设备的故障可能是由几个相互竞争的风险造成的，这可能更为现实。本文针对Weibull寿命下的一次性设备测试开发了基于发散的推理。该推理比经典的基于MLE的推理更稳健，当数据来自真实模型时，效率没有显著损失。进行了详细的仿真研究，以显示所提出的估计方法和相关推理的行为。最后，为了说明目的，将所开发的方法应用于电机绝缘数据集。

MSC公司：

62号05 可靠性和寿命测试
62层35 鲁棒性和自适应程序（参数推理）

关键词：

一次性设备;可靠性;蒙特卡罗模拟研究;稳健性;相互竞争的风险
PDF格式BibTeX公司 XML格式引用
\textit{N.Balakrishnan}和\textit{E.Castilla}，J.Compute。申请。数学。437，文章ID 115452，12 p.（2024；Zbl 1522.62092）
全文： 内政部

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