Modeling resonator frequency fluctuations induced by adsorbing and desorbing surface molecules

doi:10.1109/58.63111

。1990;37(6):543-50.

doi:10.1109/58.63111。

表面分子吸附和解吸引起的谐振器频率波动模型

Y K勇¹, J R维格

附属公司

PMID： 18285076
内政部： 10.1109/58.63111

表面分子吸附和解吸引起的谐振器频率波动模型

Y K Yong先生等。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。 1990。

。1990;37(6):543-50.

doi:10.1109/58.63111。

作者

Y K Yong先生¹, J R维格

附属

¹土木与环境部。工程师，罗格斯大学，新泽西州皮斯卡塔韦。

PMID： 18285076
内政部： 10.1109/58.63111

摘要

利用吸附分子的质量负载效应原理，研究了分子在平板电极上吸附和解吸引起的谐振频率波动。这项研究是基于一个525 MHz的AT切割石英谐振器，该谐振器封装在一个小的晶体支架中。推导了晶体支架表面吸附速率与压力之间的关系方程，发现其为吸附速率的二次多项式函数。基于这些方程的计算表明，当温度变化时，具有较高解吸能量的污染物气体会产生较大的压力变化。描述因任何一个污染物位置引起的频率波动的函数是一个连续时间马尔可夫链。推导了马尔可夫链的Kolmogorov方程和自相关函数。推导了谐振腔频率起伏的自相关函数和谱密度函数。研究了1Hz频率波动的光谱密度与压力、温度和分子解吸能的关系。发现含有一种分子的污染气体的噪声级在低解吸能量下较低，在低压力下较高。

PubMed免责声明

类似文章

谐振器表面污染——频率波动的原因？
Yong YK，Vig JR。 Yong YK等人。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1989年；36(4):452-8. doi:10.1109/58.31783。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1989 PMID：18285006
微机电系统谐振器中的噪声。
Vig JR，Kim Y。 Vig JR等人。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1999;46(6):1558-65. doi:10.1109/58.808881。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1999 PMID：18244354
电磁辐射对石英谐振器Q值的影响。
Yong YK、Patel M、Vig J、Ballato A。 Yong YK等人。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。2009年2月；56(2):353-60. doi:10.1109/TUFFC.2009.1044。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。2009 PMID：19251522
圆形和电极化AT切石英谐振器的厚度-剪切模式形状和质量-频率影响面。
Yong YK、Stewart JT、Detaint J、Zarka A、Capelle B、Zheng Y。 Yong YK等人。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1992;39(5):609-17. doi:10.1109/58.156179。 IEEE Trans Ultrason铁电体频率控制。1992 PMID：18267672
用涨落光谱研究了Au-Ag-Au双金属原子尺度结表面吡啶平衡吸附/解吸产生的化学噪声。
Hwang TW、Branagan SP、Bohn PW。 Hwang TW等人。《美国化学学会杂志》，2013年3月20日；135(11):4522-8. doi:10.1021/ja400567j。Epub 2013年3月6日。《美国化学学会杂志》，2013年。 PMID：23432002

查看所有类似文章

引用人

纳米机电系统中的表面吸附质波动和噪声。
Yang YT、Callegari C、Feng XL、Roukes ML。 Yang YT等。纳米Lett。2011年4月13日；11（4）:1753-9。doi:10.1021/nl2003158。Epub 2011年3月9日。纳米Lett。2011 PMID：21388120 免费PMC文章。

将引文保存到文件

电子邮件引文

添加到集合

添加到我的书目

您保存的搜索

为外部引文管理软件创建文件

您的RSS源

表面分子吸附和解吸引起的谐振器频率波动模型

附属

表面分子吸附和解吸引起的谐振器频率波动模型

作者

附属

摘要

类似文章

引用人