（IUCr）应用晶体学杂志第40卷第5部分，2007年10月

J.应用。克里斯特。(2007).40,813-819
doi:10.1107/S0021889807030403

X射线反射仪中的数据简化实践

F.萨拉赫,B.哈扎拉和A.范德利

描述了X射线反射仪中的数据简化实践。对应用背景减法、几何效应和归一化等校正方法进行了比较和讨论。

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X射线和中子镜面反射率数据的现代数据分析方法比较

A.范德利,F.萨拉赫和B.哈扎拉

比较了镜面X射线反射率和中子反射率的数据分析方法。遗传算法对于相对简单的系统表现得特别好，但对于更复杂的系统从头算需要使用方法来获得遗传算法所需的层数。

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帕特森方法的复仇。三、。从头算粉末衍射数据的相位

M.C.伯拉,R.卡利安德罗,B.卡罗齐尼,G.L.卡斯卡拉诺,L.De Caro公司,C.贾科瓦佐,G.波利多里和D.斯利奇

将Patterson反褶积程序应用于粉末衍射数据。将其效率与直接方法的性能进行了比较。

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黄铜矿型薄膜的晶粒尺寸分布和晶界

D.Abou-Ras公司,S.Schorr公司和H.W.肖克

从不同黄铜矿类型薄膜横截面上获得的电子背散射衍射图获得的晶粒度分布可用对数正态分布函数表示。这些薄膜中最常见的晶界类型是60°-221°_泰特和71°-110°_泰特（近）∑3孪晶界。

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通过SEM–FEG/EBSD和间接双踪法获得的对层状共析结构中铁素体和渗碳体之间晶体相关性的新见解

Y.D.Zhang先生,C.埃斯林,M.加尔卡尼奥托,十、赵和L.Zuo（左）

利用SEM–FEG/EBSD（扫描电子显微镜–场发射枪/电子背散射衍射）和间接双踪法，导出了近共析钢中四种不同的铁素体/渗碳体取向关系。本研究结果可深入了解珠光体相变的晶体学，并通过界面裁剪为材料设计提供有用信息。

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织构对乙酰水杨酸和甲苯磺丁脲压块内在溶解行为的影响

M.特尼奥,J.奥尔顿,P.Heinänen先生,Peltonen乳杆菌和V.-P.莱托

与择优取向度较低的致密物相比，具有较高织构度的致密物的固有溶解速率明显较低。还发现，通过纹理测量结果，可以预测压实粉末的颗粒习性。

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骨组织工程显微衍射图谱的典型相关和定量相分析

A.瓜里亚尔迪,C.贾尼尼,拉迪萨先生,A.拉穆拉,T.劳德迪奥,A.塞多拉,S.拉戈马西诺和R.坎塞达

描述了一种结合扫描微衍射技术、Rietveld定量相分析和被称为典型相关分析的统计方法的方法，以提供相浓度的二维映射。

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用掠入射X射线衍射直接观察弹性位移模式

G.普雷沃,A.科蒂,B.克罗塞特和Y.加罗

掠入射X射线衍射被证明是测量晶体表面附近弹性位移模式的直接工具。这些测量的应用是在自组织表面和邻近表面上进行的。

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预付款从头算基于Patterson反褶积技术的蛋白质相位分析

R.卡利安德罗,B.卡罗齐尼,G.L.卡斯卡拉诺,L.De Caro公司,C.贾科瓦佐和D.斯利奇

Patterson反褶积方法从头算蛋白质相位已得到改进，以处理低分辨率数据和轻原子结构。

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用衍射法测定残余应力时获得无应变点阵参数的方法

P.J.威瑟斯,M.普劳斯,A.斯特沃和J.W.L.庞

本文综述了确定或推断多晶材料无应变晶格参数的各种方法。这是使用衍射法测定残余应力的一个基本步骤，通常也是最困难的步骤。

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多晶体中单个晶粒的高分辨率三维地形层析成像

W·路德维希,E.M.劳里德森,S.施密特,H.F.鲍尔森和J.巴鲁切尔

提出了一种X射线成像几何学，能够对多晶体体中的单个晶粒进行无损、高分辨率层析表征。

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走向成熟的高压大分子晶体学

E.吉拉德,A.-C.Dhaussy公司,B.止咳药,J.-C.切尔文,M.Mezouar先生,R.卡恩,一、阿斯康和R.福尔姆

高压大分子晶体学的创新使得该方法可以在超过2 GPa的压力范围内应用于具有各向异性习性和/或低对称空间群的晶体。

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摩擦酸锂的结构与光学性能的关系

J.埃克塞巴里亚,J.奥尔特加和C.L.Folcia公司

LiB旋光度的测量_三O（运行）₅沿双折射截面进行。建立了材料的结构与光学性能之间的关系。

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ZnO畴匹配外延膜中的螺纹位错

W.-R.刘,谢家华,C.-H.Hsu,K.S.Liang公司和F.S.-S.Chien

生长ZnO外延膜中的螺纹位错特征c（c）-用X射线衍射和透射电子显微镜对平面蓝宝石进行了研究。通过扫描电容显微镜测量的电容信号以及获得的结构特性，可以深入了解螺纹位错在控制ZnO外延膜电性能中的作用。

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预付款免费午餐方法

R.卡利安德罗,B.卡罗齐尼,G.L.卡斯卡拉诺,L.De Caro公司,C.贾科瓦佐和D.斯利奇

`免费午餐方法（非测量反射外推法）已被描述并变得更加有效。

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摇晃和烘焙在网格上

R.米勒,N.沙阿,M.L.格林,W.愤怒和C.M.周

本文的重点是基于网格版本的SnB公司和BnP公司，基于的程序摇晃和烘焙根据X射线衍射数据确定分子结构的方法。

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布里渊实验室中子仪器用双超镜单色仪

S.Désert公司,V.塞维诺,A.加布里埃尔,P.许可证,J.奥伯迪斯和A.布列特

介绍了中子仪器用双超镜单色仪的设计和特点。

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同步辐射掠入射X射线散射对二嵌段共聚物薄膜回旋结构的详细分析

S.Jin公司,J.Yoon先生,K.Heo先生,H.-W.公园,J.金,K.-W.金,T.J.Shin先生,张灼祥和M.雷

导出了衬底支撑薄膜中回旋体结构的掠入射X射线散射（GIXS）公式。对聚苯乙烯中形成的陀螺结构进行了二维GIXS测量-b条-利用散射公式成功地对硅衬底上的聚异戊二烯二嵌段共聚物薄膜进行了定量分析。

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摇摆曲线小角中子散射实验的Ewald结构和分辨函数

N.丹尼利迪斯,I.迪米特洛夫和X.S.Ling公司

Ewald结构被应用于线状物体（如超导磁力线晶格）的小角度中子散射实验。摇摆曲线测量的分辨率函数由光束准直和波长扩展导出。

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计数损失对测量X射线强度影响的蒙特卡罗模拟

T.伊达

用蒙特卡罗方法检验了基于传统非趋势和扩展停滞时间模型的计数损失的统计特性。文中还给出了估算校正强度统计误差的实用公式。

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清洁工：分析X射线纤维衍射图样和从原子结构模型进行衍射模拟的新工具

O.萨姆纳·马金,P.西科尔斯基和L.C.Serpell公司

描述了一个用于帮助解释X射线纤维衍射数据的程序。该程序可以从模型坐标操作数据、数据处理和衍射模拟。

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J.应用。克里斯特。(2007).40,973-974

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发行内容

2007年10月发行

研究论文

X射线反射仪中的数据简化实践

X射线和中子镜面反射率数据的现代数据分析方法比较

帕特森方法的复仇。三、。从头算粉末衍射数据的相位

黄铜矿型薄膜的晶粒尺寸分布和晶界

通过SEM–FEG/EBSD和间接双踪法获得的对层状共析结构中铁素体和渗碳体之间晶体相关性的新见解

织构对乙酰水杨酸和甲苯磺丁脲压块内在溶解行为的影响

骨组织工程显微衍射图谱的典型相关和定量相分析

用掠入射X射线衍射直接观察弹性位移模式

预付款从头算基于Patterson反褶积技术的蛋白质相位分析

用衍射法测定残余应力时获得无应变点阵参数的方法

多晶体中单个晶粒的高分辨率三维地形层析成像

走向成熟的高压大分子晶体学

摩擦酸锂的结构与光学性能的关系

ZnO畴匹配外延膜中的螺纹位错

预付款免费午餐方法

摇晃和烘焙在网格上

布里渊实验室中子仪器用双超镜单色仪

同步辐射掠入射X射线散射对二嵌段共聚物薄膜回旋结构的详细分析

短通信

摇摆曲线小角中子散射实验的Ewald结构和分辨函数

计数损失对测量X射线强度影响的蒙特卡罗模拟

计算机程序

清洁工：分析X射线纤维衍射图样和从原子结构模型进行衍射模拟的新工具

即将召开的会议和短期课程

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