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图4
(一)C–O–N基准面上的变形密度（左）和用0 K 1%噪声数据重建（右）。(b)利用（左）和（右）核电子和对称性限制条件下的50K 1%噪声数据重建变形密度。等高线的绘制与图2中的等高线相同[链接].

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进展
国际标准编号：2053-2733
第80卷| 第3部分| 2024年5月| 第249-257页
https://doi.org/10.107/S2053273324001645