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.2001年2月1日;10(3):221-9.
doi:10.1093/hmg/10.3.221。

Hay-Wells综合征是由p63的SAM域中的杂合错义突变引起的

附属机构

Hay-Wells综合征是由p63 SAM结构域的杂合错义突变引起的

J A McGrath杂志等。 人类分子遗传学. .

摘要

Hay-Wells综合征,也称为强直性睑球粘连-外胚层发育不良-左旋(AEC)综合征(OMIM 106260),是一种罕见的常染色体显性遗传疾病,以先天性外胚层异常发育为特征,包括脱发、头皮感染、营养不良指甲、牙缺失、强直性睑缘和唇裂和/或腭裂。这一系列临床体征是独特的,但也可以与其他外胚层发育不良综合征相重叠,例如手指缺失-外胚层发育不良-唇腭裂(EEC;OMIM 604292)、肢体-乳腺综合征(LMS;OMIM 603543)、肢端-皮蹄-泪牙综合征(ADULT;OMIM 103285)和隐性唇腭裂——外胚层发育不良(CLPED1;OMIM 225060)。我们最近证实p63基因的杂合突变是EEC综合征的主要原因。连锁研究表明,相关的LMS和成人综合征也是由p63基因突变引起的。因此,p63基因突变似乎具有高度的多效性效应。我们分析了AEC综合征患者的p63,并在八个家族中发现了错义突变。所有突变都会导致无菌α基序(SAM)域中的氨基酸替换,并预计会影响蛋白质与蛋白质的相互作用。相反,EEC综合征中发现的绝大多数突变是DNA结合域中的氨基酸替换。因此,EEC和AEC综合征具有明确的基因型-表型相关性。

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