2
\$\开始组\$

我使用PT1000和MAX31865测量机器内部的温度。

电子设备(MAX31865和MCU)位于隔离盒内。PT1000位于外部,以双线配置连接(电缆长度约30cm)。整个系统加热至约135°C,压力也为30PSI。盒子应该密封并隔热,所以我们预计里面的温度不会上升到100°C以上,但目前我们无法对此进行检查。

进行测量时,温度高达约130°C时工作正常。之后,温度一直在上升。它显示了大约280°C的测量值,大约是应该测量值的两倍。总测量值大约为40分钟,而传感器的工作时间为5-10分钟。

当我们把暖气关小时,它又开始完美地工作了。

这种不准确的原因是什么?这是MAX3286的已知问题,还是PT1000存在问题?我认为问题不在于SPI通信或MCU,因为这会显示为损坏的数据。

示意图:

原理图

数据:

数据

\$\端组\$
4
  • \$\开始组\$ 是否存在与高温值相关的电气干扰的可能性? \$\端组\$ 4月30日20:37
  • \$\开始组\$ 我想没什么特别的。该机器已通过现代EMI标准认证。 \$\端组\$ 4月30日20:42
  • 6
    \$\开始组\$ 设置说明不清楚。什么是“整个系统”?为什么你希望“整个系统”中装有电子元件的密封盒内部有温度较少的比外面的温度高吗? \$\端组\$
    – 
    4月30日20:47
  • \$\开始组\$ 双线连接不太可靠。有一次,我甚至遇到了约300摄氏度的漂移,这是由于在80摄氏度的双线电路中加热互连线造成的。 \$\端组\$
    – 理论家
    5月7日4:02

4个答案4

重置为默认值
4
\$\开始组\$

整个系统加热至约135°C。。。

…和。。。

在此处输入图像描述

图1。发件人数据表.

\$\端组\$
7
  • \$\开始组\$ 外部(PT1000所在的位置)加热至135°C。不应该在里面。我们过去做过一些测量,在盒子里测得最高温度为85-90°C。这是没有电子困难。 \$\端组\$ 4月30日20:41
  • \$\开始组\$ 你的问题不清楚。需要编辑。 \$\端组\$
    – 晶体管
    4月30日20:42
  • 5
    \$\开始组\$ 如果密封的盒子放在一个加热到135摄氏度的房间里,盒子的内部怎么能不超过90摄氏度? \$\端组\$
    – 巴里
    4月30日22:29
  • \$\开始组\$ @Barry具有热质量、隔离和有限的操作时间。但我同意应该进行验证。 \$\端组\$ 5月1日9:05
  • \$\开始组\$ 我想对内部温度进行独立验证。带最高温度指示器的机械温度计是一个相当乏味的解决方案。一个吸引我的想法是在里面放一块整齐的菲尔兹金属,甚至蜡烛蜡。它们将在60°C左右融化。罗斯的金属可以让你达到100°C。这是对内部温度电子记录的补充。 \$\端组\$ 5月1日12:16
4
\$\开始组\$

你需要一些数字。要么测量盒子内的温度,要么找到自我监测的方法。这将证实或反驳您对系统温度的期望。

从传感器引出电线,并用简单的万用表在相关范围内进行检查。由于高温读数是由高电阻引起的,焊接不良或传感器损坏(从而导致间歇性发热)可能会导致此问题。如果你不能这样做,仔细检查这个简单电路中的每个连接(最好在像样的显微镜下),然后更换传感器。PCB故障也可能发生,但可能性要小得多。

如果传感器没问题,电路没问题,温度也没问题,那么屏蔽或类似的东西可能会很奇怪。你的情况听起来有点奇怪。也许有一些你没有提到的东西会对读数产生巨大影响。

请注意,推荐的原理图要求在传感器上使用10nF电容器,而您使用的是100nF。如果MAX32865设计得不好,可以想象这会导致不稳定,但这是一个很长的尝试。除非考虑到较长的时间常数,否则它也会影响读数。

\$\端组\$
1
  • \$\开始组\$ 我要做的第一件事就是用PT1000在电路板旁边的外壳内重复这个实验。 \$\端组\$ 5月1日12:20
0
\$\开始组\$

这里有一些很好的电子学和实验答案和评论。在这里(对我来说不同寻常),我建议进行理论检查,以及另一种故障模式。

制作一个一维热模型

你不需要一个粗糙模型的热模拟软件,只需使用傅里叶定律这只需要穿过盒子壁的ΔT、盒子的表面积和盒子的热导率,就可以计算出你会得到多少热流。你还需要知道盒子里装的东西的总热容,这是根据盒子里每种材料的比热容及其质量计算出来的。电子设备中的大多数材料贡献不大,所以集中精力在金属上(任何电池都会贡献相当大的能量)。

你可以从外面的ΔT:130°C和里面的初始温度的最坏情况值开始。假设绝缘材料的完美覆盖是一个最好的估计;希望你的电线很细。我希望你会有绝缘材料的规格。

然后,利用热流和热容,你可以很容易地计算出在这些粗略假设下的升温速率,看看内部温度是否会在你观察到的时间尺度内变得过热。随着内部加热而改变ΔT的数值模型仍然很简单;这将使情况看起来更好,因为减小ΔT将减少热流。

检查所有电池

此外,如果是电池供电的,则应检查电池在相关温度下的性能。它们的输出电压和内阻将随温度变化。如果电压最终超出IC的额定范围,则会出现未定义的行为。

当然,如前所述,测量内部T

\$\端组\$
0
\$\开始组\$

验证您的Rsense(每个原理图4.3k)电阻器的温度稳定性。

这在根据MAX31865数据表设置RTD元件的测量时起着非常重要的作用。您在注释中指出,外壳中的温度达到90C范围,Rsense电阻器甚至可能比外壳的环境温度更高。。。

\$\端组\$

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