High-resolution study of (002, 113, 11−1) four-beam diffraction in Si

Kohn, V.G.; Kazimirov, A.

doi:10.1107/S0108767312012305

硅中（00211311-1）四光束衍射的高分辨率研究

V.G.科恩和A.卡齐米洛夫

（002113， $11\上划线{1}$ )介绍了硅的四光束衍射。入射的同步辐射光束被高度单色化，并在垂直和水平面上以色散装置的多晶体排列进行准直，以尝试在实验上接近平面波入射条件。Renninger方案使用垂直于晶体表面的禁止反射倒向晶格矢量002。在晶体表面和垂直面上分别进行了方位和极性旋转。测量了各种方位角的极角曲线，发现极角曲线与理论计算机模拟非常接近，与平面单色波只有很小的偏差。首次观察到强双光束002衍射效应，最大反射率接近80%。实验确定硅中002反射的结构因子为零。

关键词：X射线多重衍射;硅;高分辨率;禁止反射.

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