让$F$表示独立元件相干结构的寿命分布。假设我们有一个独立系统的样本，所有系统都具有相同的结构。对每个系统进行持续观察，直至其发生故障。对于每个系统中的每个组件，都会记录故障时间或审查时间。如果部件在系统故障之前或发生故障时发生故障，则记录故障时间；否则会记录审查时间。我们介绍了一种基于系统故障对部件寿命的审查来求$F（t）$、分位数和$F$的其他泛函的估计值的方法。我们使用计数过程和随机积分理论来获得极限定理，从而能够构造大样本的置信区间。我们的方法扩展并给出了审查方法的新应用。