The Origin and Minimization of the Critical-Angle Reflection from a Thin-Film Multilayer Monochromator

Saxena, A.M.

doi:10.1107/S002188989600893X

薄膜多层单色仪临界角反射的起源和最小化

A.M.Saxena公司

薄膜多层器件用作中子白光束的单色器，由于多层和衬底组成材料的全反射，也反射主光束的长波分量。光谱的这一部分包括临界值以上所有波长的主光束通量，这取决于多层膜的特性及其角度设置。中子束中该成分的存在可能会干扰高分辨率结构测定。虽然没有消除这种污染的独特方法，但可以采取以下方法将其降至最低：（i）使用具有最小可实现周期的多层膜；（ii）适当选择双层材料、基底和层数，以尽量减少总反射；（iii）用50-100Å的钆薄层涂覆所述多层；以及（iv）安装镀镍硅板，以将不需要的波长反射到远离主光束的位置。

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